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影響直讀光譜儀分析質(zhì)量的因素
狹縫
光譜儀采用了一個(gè)復(fù)雜而又敏感的光學(xué)系統(tǒng)。在此條件下可進(jìn)行如下校準(zhǔn):標(biāo)準(zhǔn)化即再校準(zhǔn)工作曲線,然后可用到的校準(zhǔn)方法有:(1)、修改持久工作曲線法(修改標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù))(2)、控樣法。光譜儀的環(huán)境溫度,濕度,機(jī)械振動(dòng),以及大氣壓的變化,都會(huì)使譜線產(chǎn)生微小的變化而造成譜線的偏移。氣壓和濕度變化會(huì)改變介質(zhì)的折射率,從而使譜線發(fā)生偏移,濕度的提高不僅會(huì)使空氣的折射率增大,而且會(huì)對(duì)光學(xué)零件產(chǎn)生腐蝕作用,降底了儀器透光率,濕度一般應(yīng)控制在55%-60%以下。溫度對(duì)光柵的影響主要改變光柵常數(shù),使角色散率發(fā)生變化,產(chǎn)生譜線漂移。這些變化會(huì)使光譜線不能完全對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的出射狹縫,從而影響分析結(jié)果。因此光學(xué)系統(tǒng)每天至少調(diào)整一次,若室內(nèi)溫度控制恒定.即使天氣變化不大,每周也要調(diào)整狹縫二次。
直讀光譜儀的儀器原理
朗鐸科技——專(zhuān)業(yè)直讀光譜儀供應(yīng)商,我們?yōu)槟鷰?lái)以下信息。
金屬試樣(電極)與電極之間進(jìn)行電弧、電火花放電,對(duì)由此產(chǎn)生的輝線光譜進(jìn)行光電測(cè)定,進(jìn)行所含元素的定量方法。其次,化學(xué)分析完成后,試劑的處理是一個(gè)難點(diǎn),隨意處置會(huì)造成環(huán)境污染。分析試樣使用光源電源激發(fā),這時(shí)產(chǎn)生的光通過(guò)聚光透鏡由入口狹縫進(jìn)入,導(dǎo)向凹面衍射光柵上,只讀取在凹面衍射光柵上分光的光中所需的光譜線,使用儀器上的光電 倍增管將光轉(zhuǎn)化成電流。
直讀光譜儀的儀器結(jié)構(gòu)
以下是朗鐸科技為您一起分享的內(nèi)容,朗鐸科技專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)直讀光譜儀,歡迎新老客戶(hù)蒞臨。
? 光譜分析:使用光譜儀,采用放電方式對(duì)試樣中所含分析元素進(jìn)行激發(fā),根據(jù)測(cè)量原子譜線的光譜強(qiáng)度,進(jìn)行定量分析的方法。
? 光電測(cè)光法:采用光電倍增管檢測(cè)光強(qiáng)度的測(cè)定法。
? 電極:作為形成放電間隙的試樣和對(duì)電極的總稱(chēng)。
? 予放電時(shí)間:設(shè)定從放電開(kāi)始到激發(fā)強(qiáng)度穩(wěn)定這一段的非積分時(shí)間。
? ya氣:在電極周?chē)纬闪鲃?dòng)的ya保護(hù)氣罩,以降低試樣影響,減少空氣中氧的吸收,確保放電穩(wěn)定。
? 分析試樣:供檢測(cè)用試樣。
? 標(biāo)準(zhǔn)試樣:根據(jù)JIS(日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn))或其它相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的化學(xué)分析方法結(jié)合分析元素含量定值,用于制作檢量線用的試樣。
? 標(biāo)準(zhǔn)化試樣:儀器運(yùn)行上段時(shí)間或檢測(cè)一定數(shù)日的試樣后,對(duì)檢量線進(jìn)行校正所使用的ya樣。
直讀光譜儀的校準(zhǔn)手段有哪些?
A 光譜儀的校準(zhǔn)如下:
描跡是對(duì)光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行的校準(zhǔn)。這是校準(zhǔn)的首要前提。在此條件下可進(jìn)行如下校準(zhǔn): 標(biāo)準(zhǔn)化即再校準(zhǔn)工作曲線,然后可用到的校準(zhǔn)方法有:
(1)、修改持久工作曲線法(修改標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù))
(2)、控樣法;
(3)、類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化法。
B (1).機(jī)械校準(zhǔn)
(2).光學(xué)校準(zhǔn)
(3).電氣校準(zhǔn)
(4).軟件校準(zhǔn)
C我覺(jué)得校準(zhǔn)應(yīng)該是包括硬件校準(zhǔn)和軟件校準(zhǔn)。
硬件包括狹縫校準(zhǔn)、入射窗口清潔、負(fù)高壓系統(tǒng)、光電轉(zhuǎn)換等。這是儀器正常工作的先覺(jué)條件。
軟件包括:完全標(biāo)準(zhǔn)化,類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化(控樣校準(zhǔn))等。完全標(biāo)準(zhǔn)化是用于校正儀器的漂移而引起的工作曲線的變化。而控樣校準(zhǔn)可以修正樣品冶煉方式與工作曲線(即與做工作曲線的標(biāo)樣的冶煉方式的差異)。
儀器的校準(zhǔn)應(yīng)先由硬件開(kāi)始,然后才是軟件。
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