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但尚沒(méi)有關(guān)于分?jǐn)?shù)電荷存在的該項(xiàng)目屬于粒子物理理論研究領(lǐng)域。電荷共軛—宇稱(chēng)(CP)對(duì)稱(chēng)性涉及到空間和物質(zhì)的基本對(duì)稱(chēng)性,一直是粒子物理研究的前沿領(lǐng)域。Cronin和Fitch因發(fā)現(xiàn)CP破壞而榮獲諾貝爾獎(jiǎng)。但他們發(fā)現(xiàn)的只是間接CP破壞,既可由弱作用引起,也可由超弱作用來(lái)解釋。要區(qū)分它們,必須研究直接CP破壞。
在實(shí)際的電路系統(tǒng)中,芯片的輸入阻抗很高,因此對(duì)單電阻形式來(lái)說(shuō),負(fù)載端的并聯(lián)電阻值必須與傳輸線(xiàn)的特征阻抗相近或相等。假定傳輸線(xiàn)的特征阻抗為50Ω,則R值為50Ω。如果信號(hào)的高電平為5V,則信號(hào)的靜態(tài)電流將達(dá)到100mA。由于典型的TTL或CMOS電路的驅(qū)動(dòng)能力很小,這種單電阻的并聯(lián)匹配方式很少出現(xiàn)在這些電路中。
但當(dāng)上述微帶線(xiàn)中Z0的四種變數(shù)(w、t、h、 r)有任一項(xiàng)發(fā)生異常,例如訊號(hào)線(xiàn)出現(xiàn)缺口時(shí),將使得原來(lái)的Z0突然上升(見(jiàn)上述公式中之Z0與W成反比的事實(shí)),而無(wú)法繼續(xù)維持應(yīng)有的穩(wěn)定均勻(Continuous)時(shí),則其訊號(hào)的能量必然會(huì)發(fā)生部分前進(jìn),而部分卻反彈反射的缺失。如此將無(wú)法避免雜訊及誤動(dòng)作了。