測試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點采集，并通過電腦實時輸出。對于一些機械零件可以做到無損檢測，不破壞樣品。分析速度快，適合做爐前分析或現(xiàn)場分析。測試范圍：可以同時快速測定金屬固體樣品中的C、Si、Mn、P、S、Cr、Ni、Mo、V、Ti、Cu、Al、W、Co、Nb、Mg、La、Ce、B、Pb、Sn、As、Sb、Bi等各種金屬、非金屬及氣體元素。

紅外碳硫分析儀原理：將試樣在高溫爐中通氧燃燒，生成并逸出CO2和SO2氣體，用此法實現(xiàn)碳硫元素與金屬元素及其化合物的分離，然后測定CO2和SO2的含量，再換算出試樣中的碳硫含量。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

光譜儀器是測量、分析和處理物質(zhì)結(jié)構(gòu)和成分的基本設(shè)備，按光譜范圍可分為真空紫外光譜儀、紫外-近紅外光譜儀和紅外光譜儀。

光譜儀主要由光源、分光系統(tǒng)和接收系統(tǒng)3部分組成。其中分光系統(tǒng)是光譜儀器的主體，而衍射光柵（以下簡稱光柵）是分光系統(tǒng)的核心部分，它使復(fù)色光發(fā)生空間分離形成光譜。因此，光譜技術(shù)的進步及發(fā)展與光柵制造技術(shù)水平息息相關(guān)。根據(jù)光譜儀器的工作原理，光柵在較寬的波段范圍都有較高的衍射效率（衍射光能量與入射光能量之比），同時整個衍射效率曲線比較平滑，這是光柵制造領(lǐng)域始終追求的目標之一。而相較于單閃耀角光柵，寬波段光柵在光譜分析領(lǐng)域具有更獨特且不可替代的優(yōu)勢，其光譜更寬，能滿足多種光譜儀全波段使用的需求，使成像探測器更加簡單。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

維護保養(yǎng)的注意事項1，維護保養(yǎng)的重點應(yīng)當是使用者經(jīng)常接觸到的地方，這些接觸點很容易出故障，應(yīng)加強對這些接觸點的維護保養(yǎng)。2，設(shè)備中的X射線管與探測器為精密元件，嚴禁磕碰撞擊儀器。3，要認真做好分析儀器維修記錄，包括維修時間、維修情況簡述、更換配件。通過記錄可以了解分析儀器維護情況及動態(tài)，進而掌握分析儀器故障原因。4，專人專管專用。設(shè)備要存放在干燥環(huán)境中。不要把儀器長時間置于陽光下存放，以防損壞液晶顯示器，禁止置于有霧，液體或腐蝕性溶劑的環(huán)境中。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

光譜儀的定量分析中的誤差來源是多種多樣的，但是可以通過計算機的軟件在測量數(shù)據(jù)進行正式處理之前，進行預(yù)處理。

對數(shù)據(jù)分別進行處理，首先要將各元素的數(shù)據(jù)分離開來，另外，為提高和改善數(shù)據(jù)的質(zhì)量，節(jié)約處理數(shù)據(jù)的時間，也需要對各元素的數(shù)據(jù)進行適當?shù)募庸?所有這一切都是數(shù)據(jù)預(yù)處理承擔(dān)任務(wù)，其中主要內(nèi)容包括：元素通道光電流的積分電壓的分路,數(shù)據(jù)編輯,數(shù)據(jù)的模/數(shù)轉(zhuǎn)換，數(shù)據(jù)格式的轉(zhuǎn)換，去除電平漂移,去除或提取趨勢項，平滑濾波器等。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制