ATE是Automatic Test Equipment的縮寫(xiě)，根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開(kāi)發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)各類(lèi)自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。

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? ate電源測(cè)試系統(tǒng)支持同時(shí)測(cè)多顆單組/多顆多組輸出電源，大幅提升產(chǎn)線產(chǎn)能

(LED電源/適配器/充電器測(cè)試速度比使用量較大的6000系列電源自動(dòng)系統(tǒng)，提高一倍以上)

? 測(cè)試時(shí)進(jìn)行并行的條形碼掃描(Bar Code Reader)，極大提高測(cè)試速度

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隨著生活水平的提高，人們對(duì)電子消費(fèi)產(chǎn)品的品質(zhì)，功能，要求也越來(lái)越高。現(xiàn)在各大OEM，ODM廠家為了提高產(chǎn)品品質(zhì)，優(yōu)化生產(chǎn)線，降低人力成本，提高企業(yè)竟?fàn)幜?，紛紛?gòu)進(jìn)ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。

　　ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)為各個(gè)領(lǐng)域的自動(dòng)測(cè)試提供了一個(gè)統(tǒng)一通用的系統(tǒng)解決方案，該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)具有開(kāi)放通用的特點(diǎn)。本文首先介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展線路，其次闡述了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的作用及原理、特點(diǎn)、優(yōu)勢(shì)，后介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的功能、功能平臺(tái)及使用領(lǐng)域。

ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的功能

　　測(cè)試程序運(yùn)行時(shí)可以監(jiān)視測(cè)試結(jié)果，測(cè)試描述以及測(cè)試程序運(yùn)行時(shí)的所有信息。

　　測(cè)試程序暫停時(shí)可以打開(kāi)儀器控制面板手動(dòng)操作進(jìn)行測(cè)試。

　　可以對(duì)測(cè)試設(shè)備信息進(jìn)行管理維護(hù)。

　　提供靈活手段對(duì)測(cè)試指標(biāo)進(jìn)行編輯管理。

　　可對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行簡(jiǎn)單查詢、分析直通率等指標(biāo)，同時(shí)提供測(cè)試結(jié)果報(bào)表定制。

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