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氦質(zhì)譜檢漏儀(Helium Mass SpectrometerLeakDetector)為氣體工業(yè)名詞術(shù)語(yǔ),用氦氣或者氫氣作示漏氣體,以氣體分析儀檢測(cè)氦氣而進(jìn)行檢漏的質(zhì)譜儀。氦氣的本底噪聲低,分子量及粘滯系數(shù)小,因而易通過(guò)漏孔并易擴(kuò)散;另外,氦系惰性氣體,不腐蝕設(shè)備,故常用氦作示漏氣體。將這種氣體噴到接有氣體分析儀(調(diào)整到僅對(duì)氦氣反應(yīng)的工作狀態(tài))的被檢容器上,若容器有漏孔,則分析儀即有所反應(yīng),從而可知漏孔所在及漏氣量大小。
一般來(lái)說(shuō),下列一些緣故會(huì)導(dǎo)致溫度轉(zhuǎn)變,從而對(duì)檢測(cè)造成危害:1、充氣全過(guò)程中氣體分子結(jié)構(gòu)磨擦熱普遍狀況:充氣全過(guò)程中氣體分子結(jié)構(gòu)磨擦?xí)斐砂l(fā)熱量造成,依據(jù)氣體式子PV=NRT,所知會(huì)造成檢測(cè)腔體內(nèi)部工作壓力上升,當(dāng)充氣完畢后溫度又會(huì)遲緩修復(fù)到一切正常的室內(nèi)溫度,因而充氣完畢后的穩(wěn)壓管時(shí)間假如不充足,即到測(cè)試階段腔體內(nèi)部溫度仍出自于下降的回應(yīng)期,那麼從而溫度下降所造成的工作壓力下降就會(huì)立即體現(xiàn)到儀器設(shè)備所檢測(cè)的泄露量中。危害:在測(cè)試階段泄露量由大縮小直到保持穩(wěn)定。
一般來(lái)說(shuō),下邊緣故會(huì)導(dǎo)致溫度轉(zhuǎn)變,從而對(duì)測(cè)試造成危害測(cè)試產(chǎn)品本身帶有溫度普遍狀況:機(jī)械加工出去的工件歷經(jīng)簡(jiǎn)易清理立即進(jìn)到測(cè)試工裝夾具,工件自身還帶有較高的溫度。冬季放到戶外的工件立即取得房間內(nèi)后就開展測(cè)試。危害:帶有較高溫度的工件在開展測(cè)試時(shí)候?qū)Τ溥M(jìn)的汽體不斷長(zhǎng)時(shí)間的加溫,在測(cè)試環(huán)節(jié)產(chǎn)品內(nèi)部的氣體壓力會(huì)居高不下,測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)負(fù)值。立即由超低溫自然環(huán)境取得高溫自然環(huán)境測(cè)試的產(chǎn)品,因?yàn)闇囟鹊膮^(qū)別,和測(cè)試時(shí)間的不一樣將會(huì)會(huì)出現(xiàn)泄露質(zhì)量互變規(guī)律大,也將會(huì)會(huì)出現(xiàn)測(cè)試負(fù)值的不一樣狀況。
氣密性檢測(cè)設(shè)備故障處理
1.OK 產(chǎn)品被判定為 NG
做法:把儀器后面連接標(biāo)準(zhǔn)品和測(cè)試品的氣管堵住,然后按啟動(dòng)按鈕開始測(cè)試,看泄漏量判斷儀器是否有問(wèn)題,如果沒有泄漏則不是儀器問(wèn)題,便可以排查夾具,看看是不是夾具松動(dòng)或者沒有夾緊導(dǎo)致的泄漏。
2.儀器無(wú)法啟動(dòng)
首先確認(rèn)一下治具光柵是否正確連接儀器,如不需要光柵則需要在功能設(shè)置界面把關(guān)閉安全光柵勾選上。
3.治具氣缸無(wú)動(dòng)作,或動(dòng)作之后儀器一直未進(jìn)入充氣流程
氣缸無(wú)動(dòng)作需要確認(rèn)儀器與治具連接線是否導(dǎo)通,氣缸氣管是否連接正常。氣缸動(dòng)作之后未進(jìn)入充氣流程可能由于未給儀器接點(diǎn)感知信號(hào),不需要勾選感知信號(hào)對(duì)應(yīng)的勾選框。