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2.5次元影像測量儀與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢?
2.5次元測量儀,是指在二次元的基礎(chǔ)上,以光學(xué)影像測量可測高度及深度,或者在鏡頭上加個(gè)測針,表面光學(xué)表面形貌儀,用光學(xué)鏡頭測量平面尺寸、用測針進(jìn)行接觸式測量可測深度,達(dá)到3維測量的效果,但此3維測量僅是簡易的3D測量,未能真正地實(shí)現(xiàn)3維全部空間尺寸的測量,因此被稱為2.5次元。
蘇州盟訊電子有限公司專注于光學(xué)微結(jié)構(gòu)熱壓設(shè)備,以其自主研發(fā),技術(shù)創(chuàng)新,不斷推新導(dǎo)光膜卷/片材熱壓設(shè)備﹑同時(shí)適用于LED導(dǎo)光板/擴(kuò)散板/PS/PMMA/照明/面板/燈飾/燈箱/電視TV等納米導(dǎo)光板片材熱壓設(shè)備。
三維表面形貌測量儀可用于物體表面三維形貌和變形測量。由于該系統(tǒng)既可配備10倍變焦遠(yuǎn)距離顯微成像鏡頭,也可配備普通變焦鏡頭,使得該系統(tǒng)能同時(shí)滿足細(xì)觀及宏觀的測量要求。
三維表面形貌測量儀的應(yīng)用: 1、精密部件3D尺寸及段差測試; 2、精密點(diǎn)膠膠線截面、膠線寬度、膠線高度測試; 3、3D玻璃缺陷檢測; 4、半導(dǎo)體表面缺陷測試;
適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測量系統(tǒng)能夠快速、有效地對幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物到有機(jī)材料——進(jìn)行三維表面分析。共焦技術(shù)能夠測量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測量數(shù)據(jù)。采用NanoFocus技術(shù)的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產(chǎn)和加工的不同階段對敏感表面進(jìn)行無損測量,透明涂層表面和層厚也可以同時(shí)測量。
無需樣品制備即可在幾秒鐘內(nèi)獲取真正的3D數(shù)據(jù),進(jìn)而對表面進(jìn)行定性和定量的評估。NanoFocus為測量數(shù)據(jù)的分析提供了強(qiáng)大的綜合軟件解決方案以便確定相關(guān)參數(shù)。
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