根據(jù)再激勵熒光補正功能，觀察”真正德物性值”

包括再激勵熒光發(fā)光狀態(tài)下，不僅不能觀察材料本身的物性，也不能觀測到包含裝置的特性，無法求出真正的物性值。QE-2000通過利用積分半球的再激勵熒光補正的特點，可簡單的測量出真正的物性值，且精度高。

什么是再激發(fā)熒光發(fā)光.

在熒光體樣品表面上反射的激發(fā)光

在積分球內(nèi)擴散和反射并再次進入熒光樣品以發(fā)射

更多光的現(xiàn)象。

產(chǎn)品特點：

操作簡單

? 專業(yè)軟件，操作簡單

? 輕松裝卸樣品測量用cell

? 小型設(shè)計，省空間

? 利用分光器型的激勵光源，可選擇任意波長

? 可在軟件指i定激勵波長的波長及step的值，進行自動測量

功能多

? 可用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量

? 豐富的解析功能

測量項目

? 量子効率（量子收率）測量

? 激勵波長依賴性測量

? 發(fā)光光譜測量

? PL激勵光譜測量

? EEM（Excitation Emission Matrix）測量

BAM的復(fù)數(shù)激勵的測量例

激勵波長變化，量子効率（量子收率）也會隨之變化。下圖中顯示的時BAM（粉體）的量子効率（量子收率）及反射率的激勵波長依賴性。（BAM＝BaMgAl10O17:Eu） ● 藍色（左邊的scale）：再激勵補正后的內(nèi)部量子効率（內(nèi)部量子收率） ■ 紅色（右邊的scale）：各激勵波長中的反射率根據(jù)此圖，如是BAM的情況時，激勵光越接近可視區(qū)域，收率越低。也就是反射率變大。

什么是再激發(fā)熒光發(fā)光...

在熒光體樣品表面上反射的激發(fā)光在積分球內(nèi)擴散和反射并再次進入熒光樣品以發(fā)射更多光的現(xiàn)象。