一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

（一）、內(nèi)部結(jié)構(gòu)

   X熒光光譜測厚儀機型很多，但是其內(nèi)部結(jié)構(gòu)如果先天不足，后期的外部結(jié)構(gòu)無論自動化多高，也無法完全滿足客戶需求。內(nèi)部結(jié)構(gòu)重要的3點：

1、X熒光發(fā)射和CCD觀測是否同步和垂直？

2、測試樣品是否可以變化測頭到樣品的距離？

3、X光照射面積從出口到樣品的擴散情況。

（二）、各種內(nèi)部結(jié)構(gòu)的優(yōu)缺點

   1、X熒光發(fā)射和CCD觀測樣品只有同步且垂直才不會因為樣品的高低深淺變化而改變測試到樣品的位置，才能保證定位精準，同時減少與探測器或計數(shù)器的夾角，夾角小測試時

受樣品曲面或者傾斜影響小。

2、測試樣品距離可變化才能測試高低不平帶凹槽的樣品工件，同時也兼顧好平面樣品的測試。但是它需要配備變焦鏡頭和變焦

補償射線的算法。

3、X光照射面積從出口到樣品的擴散過于嚴重會導(dǎo)致無法測試樣品工件上較小的平面位置，如果減小出口（準直器直徑），又會嚴重耗損X光的強度。

因此一臺此類儀器的小準直器不是關(guān)鍵，但是測試面積卻是個重要的指標。

一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

X熒光鍍層測厚儀標準片選擇與使用

1．一般要求

   使用可靠的參考標準塊校準儀器。后的測量不確定度直接取決于校準標準塊的測量不確定度和測量精度。

   參考標準塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應(yīng)知其組成。參考標準塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標準塊，將是可靠的。合金組成的測定，校準標準不需要相同，但應(yīng)當已知。從設(shè)計上分為橫窗型(sidewindowtype)和縱窗型(endwindowtype)兩種X射線管，都是設(shè)計成能夠把X射線均勻得照射在樣品表面的結(jié)構(gòu)。

金屬箔標準片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標準片，就必須注意確保接觸清潔，無皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測量允許，否則必須進行補償后再測。

2．標準塊的選擇

可用標準塊的單位面積厚度單位校準儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。標準片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。標準片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3．標準塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用

   校正標準塊的覆蓋層應(yīng)與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標準塊的基體應(yīng)與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過比較被測試樣與校正參考標準塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度，然后通過軟件達到對儀器的校正。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

一六儀器  X熒光光譜測厚儀

鍍層分析X射線熒光光譜特點

     1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數(shù)10S-1分鐘，分析精度高。

     2.可測試超薄的鍍層。

     3.可測試多鍍層，分析精度遠遠高于其他測量方法。

     4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準確的分析出合金鍍層的厚度。

     5.對于樣品可進行連續(xù)多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復(fù)雜面進行測量。

     6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別

     7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。

     8.可以對樣品進行測試

     9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標樣

      X熒光光譜儀原理及應(yīng)用領(lǐng)域

一、簡單原理

      每個元素受高能輻射激發(fā)，即發(fā)射出具有一定特征的X射線譜線。通過軟件測試分析得出該譜線波長，即可知道是那種元素（定性）；通過分析測試其強度，得出該元素含量（定量）。X熒光光譜分析是一種非常常見的分析技術(shù)，

二、應(yīng)用領(lǐng)域

     X熒光光譜儀作為一種常見的分析技術(shù)手段，在現(xiàn)實生活中有著非常廣泛的應(yīng)用，主要可以分為以下四大類：

1.鍍層行業(yè)

     電鍍行業(yè)尤其以工業(yè)電鍍?yōu)橹?，在工業(yè)生產(chǎn)中，通常我們?yōu)榱水a(chǎn)品尤其是金屬類能達到一定的性能會在其表面鍍上另一種金屬，這種金屬電鍍的膜厚往往是受管控，而X熒光光譜儀就是其best的管控者。

2.重金屬檢測

      我們的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等這些都跟我們有著緊密的關(guān)聯(lián)，但這其中也許就含有對我們?nèi)梭w是有害的重金屬，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等長期接觸會導(dǎo)致人體的病變甚至，為了使用安全，工業(yè)生產(chǎn)時需對產(chǎn)品重金屬檢測管控（RoHS檢測），而X熒光儀器就能對其進行監(jiān)測。古董的檢測X熒光儀器在古董的檢測鑒定上也起著重要的作用，通過儀器檢測對產(chǎn)品進行定性分析可得其元素成分，從而對產(chǎn)品的年限進行一個判斷，得出結(jié)論。

3.元素成分分析

      元素成分分析應(yīng)用也是更加廣泛，如巖石礦產(chǎn)的開發(fā)開采，鋼鐵、銅合金、鋁合金等可能因某一種元素的含量不同就會大大改變其物理性質(zhì)，為達到這種物理性質(zhì)就需要控制相關(guān)元素的含量，通過X熒光儀器的檢測就可以很好的生產(chǎn)出我們所需的物品，另外還可以利用成分分析原理對珠寶首飾進行真假鑒定。X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。

4.古董的檢測

     X熒光儀器在古董的檢測鑒定上也起著重要的作用，通過儀器檢測對產(chǎn)品進行定性分析可得其元素成分，從而對產(chǎn)品的年限進行一個判斷，得出結(jié)論。