測試參數(shù)： ICES 集電極-發(fā)射極漏電流 IGESF 正向柵極漏電流 IGESR 反向柵極漏電流 BVCES 集電極-發(fā)射極擊穿電壓 VGETH 柵極-發(fā)射極閾值電壓 VCESAT 集電極-發(fā)射極飽和電壓 ICON 通態(tài)電極電流 VGEON 通態(tài)柵極電壓 VF 二極管正向?qū)▔航? 整個(gè)測試過程自動(dòng)完成，電腦軟件攜帶數(shù)據(jù)庫管理查詢功能，可生成測試曲線，方便操作使用。電流 通過選擇不同檔位電感，滿足0~200A電流輸出需求（10ms）。

9、系統(tǒng)保護(hù)功能

9.1 有完備的安全控制單元，動(dòng)態(tài)測試設(shè)備有傳感器來保證操作者安全，設(shè)備任何門被打開均能快速切斷高壓電源。

9.2 有急停按鈕，當(dāng)急停按鈕被按下時(shí)，迅速切斷所有高壓電源。

9.3 系統(tǒng)帶有短路保護(hù)功能，在過載時(shí)迅速斷開高壓高電流。

9.4 操作系統(tǒng)帶有多級(jí)權(quán)限。

9.5 系統(tǒng)應(yīng)配有內(nèi)置ups，保證計(jì)算機(jī)系統(tǒng)在電網(wǎng)短時(shí)間掉電情況下，為系統(tǒng)供電0.5小時(shí)以上，確保系統(tǒng)及數(shù)據(jù)安全。

10、樣品夾具

10.1 有通用測試夾具。

10.2 帶有62mm封裝測試夾具

10.3 帶有EconoPACK3封裝測試夾具

10.4 帶有34mm封裝測試夾具

開通特性測試采用雙脈沖測試法。由計(jì)算機(jī)設(shè)定并控制輸出集電極電壓VCC值到被測器件的測試要求值（一般為被測器件額定電壓的1/2），設(shè)定±VGG到測試要求值，計(jì)算機(jī)控制接通開關(guān)S1,并控制輸出被測雙脈沖觸發(fā)信號(hào)，開通和關(guān)斷被測器件兩次，被測器件次開通后，集電極電流IC上升，直至被測器件飽和導(dǎo)通且IC達(dá)到測試規(guī)定值時(shí)，關(guān)斷被測器件(設(shè)為t1時(shí)刻)，之后電感L經(jīng)二極管（Q1內(nèi)部二極管）續(xù)流，IC迅速減小，直至IC降為零時(shí)，第二次開通被測器件(設(shè)為t2時(shí)刻)，此后電感L中的電流向IC轉(zhuǎn)移，IC迅速上升(若L足夠大，t1～t2間隔足夠短，L中的電流可視為恒流），直至被測器件再次達(dá)到飽和導(dǎo)通時(shí)(設(shè)為t3時(shí)刻)，關(guān)斷被測器件。電子電力產(chǎn)品生產(chǎn)、檢修廠——應(yīng)用本公司測試系統(tǒng)可對(duì)所應(yīng)用到的半導(dǎo)體元器件，尤其對(duì)現(xiàn)代新型IGBT大功率器件的全參數(shù)進(jìn)行智能化測試、篩選、分析，以確保出廠產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性。記錄下被測器件IC、VCE以及VGE在t2～t3之間的導(dǎo)通波形，其中，VCE采樣到示波器的CH1通道，IC取樣到示波器的CH2通道，VGE采樣到示波器的CH3通道，示波器通過光通訊方式將測試波形傳輸給計(jì)算機(jī)，由計(jì)算機(jī)對(duì)測試波形進(jìn)行分析與計(jì)算，后顯示測試結(jié)果。