鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。


使用儀器時應當遵守的規(guī)定a 基體金屬特性對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。b 基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。c 邊緣效應不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。

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隨著經(jīng)濟的發(fā)展，我國對礦產(chǎn)資源的需求量必然上升，然而中國的礦藏資源雖豐富，但窮礦多富礦少，礦石品質(zhì)不及一些海外國家。當前我國在一些礦產(chǎn)資源上對外依存度較高，已經(jīng)嚴重制約著我國相關(guān)產(chǎn)業(yè)的健康發(fā)展，因此國家相關(guān)部門紛紛出臺政策鼓勵企業(yè)“走出去”，支持企業(yè)到境外獨資或合資開礦。來吧，讓浪聲科學和你一起見證成功的喜悅！