手持式光譜儀的常見(jiàn)問(wèn)題解答

1、如何利用XRF技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)？

分析儀發(fā)出X射線。X射線撞擊到被測(cè)樣品，使樣品中的元素發(fā)出熒光，進(jìn)口手持光譜儀，然后再返回到分析儀中的X射線探測(cè)器。分析儀對(duì)返回的X射線進(jìn)行計(jì)數(shù)，并通過(guò)數(shù)學(xué)式運(yùn)算，得出分析結(jié)果。

2、XRF分析儀的用途是什么？

XRF分析儀用于需要辨別材料的化學(xué)成分的應(yīng)用中。便攜式XRF分析儀可在野外現(xiàn)場(chǎng)采用堪比實(shí)驗(yàn)室的技術(shù)對(duì)那些龐大、笨重或運(yùn)送成本很高的樣品進(jìn)行檢測(cè)。在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行分析可以實(shí)時(shí)提供信息，使用戶迅速做出決策。

手持式光譜儀的使用方法

奧林巴斯手持式光譜儀是一款鍍層測(cè)厚分析、合金成分分析、金屬成分分析等多功能為一體的手持式熒光光譜儀?？梢詭湍跓o(wú)損檢測(cè)的前提下測(cè)試出樣件的鍍層厚度，進(jìn)口手持光譜儀哪家好，并且這個(gè)測(cè)試過(guò)程極為簡(jiǎn)單輕松：

如果說(shuō)“把大象裝冰箱統(tǒng)共分三步”，那使用奧林巴斯手持光譜儀也僅僅需要三步：

1.選擇一個(gè)任意金屬基材的鍍層樣品(鐵、銅、鎳等等都可以)。

2.正確使用我們的工廠鍍層方法，或自定義一個(gè)特定的應(yīng)用與可選的單點(diǎn)校準(zhǔn)。

3.開始測(cè)試。

手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，進(jìn)口手持光譜儀公司，從光發(fā)射管里發(fā)射出來(lái)的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中，它們會(huì)釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過(guò)程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所發(fā)射出來(lái)的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。

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