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應(yīng)用

用于現(xiàn)場(chǎng)分析合號(hào)與元素。

鍍層厚度分析

選配鍍層模式，就可以用X系列分析儀測(cè)出金屬鍍層的厚度。

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天津市聯(lián)創(chuàng)蔚萊科技發(fā)展有限公司，以南京理工大學(xué)北方研究院為載體，立足天津，輻射周邊，通過(guò)創(chuàng)新的合作模式，便捷式手持光譜儀，匯聚了國(guó)內(nèi)外理化儀器的生產(chǎn)企業(yè)。

X - 50不能測(cè)量Mg，Al或Si，在某些材料中可以測(cè)量P和S。

X - 50配有與其他X型號(hào)相同的較X管(電壓da40 kV)、集成攝像頭、視頻和Android操作系統(tǒng)平臺(tái)。

美國(guó)SciAps Inc.(賽普司)始于1998年，總部位于美國(guó)波士頓，是較早專(zhuān)注于便捷式元素分析光譜研發(fā)的企業(yè)。經(jīng)過(guò)多年的積累，海淀區(qū)便捷式光譜儀，已成為從事手特光譜分析設(shè)備的研究機(jī)構(gòu)。

煉化廠(chǎng)硫化物腐蝕分析，可3秒識(shí)別金屬中低至0.02%的Si。

◆流動(dòng)加速腐蝕分析，幾秒識(shí)別金屬中的低至0.03%的Cr。自動(dòng)計(jì)算金屬的碳當(dāng)量，快速判斷材料的可焊性

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