對比試樣校準測量結(jié)果差別大？

探頭的放置方法對測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與被測件外表堅持筆直。而且探頭的放置時刻不宜過長，校準試樣，避免形成基體本身磁場的攪擾。測量時不要拖動探頭，由于這么不僅對探頭會形成磨損，也不會得到的測量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測量基座外表有銹蝕、測量現(xiàn)場周圍有電磁場攪擾等要素都有也許致使測量成果的反常，校準試樣哪家好，假如離電磁場十分近時還有也許會死機。

對比試樣校準使用注意事項

1.在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似?！　? 

2.在測量的時候要注意，校準試樣報價，側(cè)頭與試樣表面保持垂直?！　? 

3在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。　  

4.在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的?！　?nbsp; 

對比試樣校準類型

1.渦流-當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，校準試樣公司，此渦流所產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

2.同位素-利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

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