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環(huán)境試驗箱去濕的方法:
除濕的方法目前運用得為廣泛有兩種,環(huán)境試驗箱廠商,一是冷凍除濕法,另一種是固體吸濕劑除濕法。前者是將空氣中的水汽冷凝在表冷器上形成水或霜。由于濕熱箱的試驗過程通常較長,表冷器結(jié)霜會影響除濕效果,一般應盡量避免這種現(xiàn)象發(fā)生,為使表冷器不至于結(jié)霜,陜西環(huán)境試驗箱,應當將表冷器的溫度控制在0℃以上。這時箱內(nèi)濕度用描述時,其溫度約為5~7℃。這一溫度已能滿足現(xiàn)行的試驗方法的要求,環(huán)境試驗箱售后維修,同時使用十分方便,因此運用。當要求更低的時,通常采用固體吸濕劑進一步吸濕劑。這類吸濕劑的表面水汽壓力在幾百至幾十個PPm數(shù)量級上,可獲得-70℃左右的溫度。這種方法使用很不方便或購買專門的設備十分昂貴。只有在一些有特殊要求的試驗時才被采用。如對內(nèi)燃機在低溫或做運行試驗的低溫箱時,要求對箱內(nèi)補充大量空氣供燃油燃燒時使用。為防止新空氣中的水汽在低溫箱的蒸發(fā)器大量結(jié)霜影響制冷,需要用固體吸濕原理制成并能連續(xù)運行的轉(zhuǎn)輪除濕機。目前這種除濕機的商品價格十分昂貴。
低溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫環(huán)境對設備的主要影響有:
a. 使材料發(fā)硬變脆;
b. 潤滑劑粘度增加,流動能力降低,潤滑作用減?。?/p>
c. 電子元器件性能發(fā)生變化;
d. 水冷凝結(jié)冰;
e. 密封件失效;
f. 材料收縮造成機械結(jié)構(gòu)變化。
溫度變化條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在溫度劇烈變化時可能發(fā)生機械故障、開裂、密封損壞、泄漏等現(xiàn)象。
溫度劇烈變化對設備的主要影響有:
a. 使部件裝配點或焊接點松動或脫落;
b. 使材料本身開裂;
c. 電子元器件性能發(fā)生變化;
d. 密封件失效造成泄漏;
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