CT檢測(cè)X射線管

X射線管的設(shè)計(jì)有兩種形式：開放管和閉合管。開放管顧名思義是開放式的，“這種技術(shù)要求在射線管內(nèi)建立一定的真空度，利用兩級(jí)真空泵不間斷地運(yùn)行來(lái)維持真空?！痹谶@個(gè)過(guò)程中，CT檢測(cè)，大量的熱量從射線管被轉(zhuǎn)移到工作艙內(nèi)。在某型情況下，工作艙內(nèi)的溫度甚至可高達(dá)60~70℃。而在閉合管上，熱量由于被封閉在管內(nèi)，不容易轉(zhuǎn)移到工作艙內(nèi)。而進(jìn)一步配以合適的冷卻系統(tǒng)（根據(jù)功率高低采用空冷或液冷），這一問(wèn)題會(huì)得到較好的解決。所以

當(dāng)選擇X射線管形式時(shí)，CT檢測(cè)價(jià)格，要注意幾個(gè)方面的因素，其中一個(gè)便是射線管的熱量傳導(dǎo)。

CT檢測(cè)面探測(cè)器

面探測(cè)器主要有三種類型：高分辨半導(dǎo)體芯片、平板探測(cè)器和圖像增強(qiáng)器。半導(dǎo)體芯片又分為CCD和CMOS。CCD對(duì)X射線不敏感，表面還要覆蓋一層閃爍體將X射線轉(zhuǎn)換成CCD敏感的可見(jiàn)光。

半導(dǎo)體芯片具有小的像素尺寸和大的探測(cè)單元數(shù)，像素尺寸可小到10微米左右，探測(cè)單元數(shù)量取決于硅單晶的大尺寸，一般直徑在50mm以上。因?yàn)樘綔y(cè)單元很小，信號(hào)幅度也很小，為了增大測(cè)量信號(hào)可以將若干探測(cè)單元合并。

CT檢測(cè)射線源

在高能電子束轉(zhuǎn)換為X射線的過(guò)程中，僅有小部分能量轉(zhuǎn)換為X射線，CT檢測(cè)報(bào)價(jià)，大部分能量都轉(zhuǎn)換成了熱，焦點(diǎn)尺寸越小，陽(yáng)極靶上局部功率密度越大，CT檢測(cè)公司，局部溫度也越高。實(shí)際應(yīng)用的功率是以陽(yáng)極靶可以長(zhǎng)期工作所能耐受的功率密度確定的。因此，小焦點(diǎn)乃至微焦點(diǎn)的的射線源的使用功率或大電壓都要比大焦點(diǎn)的射線源低。電子輻射發(fā)生器的共同缺點(diǎn)是X射線能譜的多色性，這種連續(xù)能譜的X 射線會(huì)引起衰減過(guò)程中的能譜硬化，導(dǎo)致各種與硬化相關(guān)的偽像。

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