雙晶線陣腐蝕檢測(cè)用超聲相控陣探頭的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)

根據(jù)腐蝕檢測(cè)的應(yīng)用需求，依靠多年的相控陣探頭開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合國(guó)外先進(jìn)的解決方案理念，設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)了國(guó)產(chǎn)雙晶線陣腐蝕檢測(cè)相控陣探頭，并配合國(guó)產(chǎn)的相控陣檢測(cè)系統(tǒng)，PAUT機(jī)構(gòu)，針對(duì)國(guó)內(nèi)實(shí)際應(yīng)用環(huán)境和需求，開(kāi)發(fā)出應(yīng)用軟件.探頭性能指標(biāo)達(dá)到一定的水平，配合軟件可以滿足國(guó)內(nèi)工業(yè)環(huán)境中的多種腐蝕檢測(cè)需求，PAUT公司，可以替代國(guó)外同類型產(chǎn)品，并更好地滿足國(guó)內(nèi)需求。

 線陣探頭相控陣超聲檢測(cè)

基于相控陣對(duì)聲束的控制原理，采用模擬軟件CIVA對(duì)聚焦聲場(chǎng)進(jìn)行模擬.通過(guò)改變探頭單組激發(fā)晶片數(shù)目，頻率和聚焦深度，分析三者之間的關(guān)系;結(jié)合人工缺陷的實(shí)際檢測(cè)結(jié)果，探討聚焦與不聚焦檢測(cè)的實(shí)施方法.試驗(yàn)表明，采用相控陣超聲進(jìn)行聚焦檢測(cè)時(shí)存在焦點(diǎn)與聲壓位置的重合區(qū)和分離區(qū)，且合適的聚焦區(qū)域在近場(chǎng)區(qū)范圍以內(nèi);不聚焦檢測(cè)時(shí)應(yīng)該根據(jù)缺陷的埋藏深度設(shè)置合理的單組激發(fā)晶片數(shù)目.以獲得較好的檢測(cè)效果.

超聲相控陣的角度補(bǔ)償

傳統(tǒng)工業(yè)相控陣定量方法不具有角度、聲程、晶片增益修正技術(shù)，多晶片探頭通過(guò)楔塊入射到工件內(nèi)部時(shí)存在入射點(diǎn)漂移現(xiàn)象和能量分布變化。采用單一入射點(diǎn)校準(zhǔn)方式與常規(guī)距離-波幅曲線修正，PAUT報(bào)價(jià)，造成的扇形掃查區(qū)域中能量分布不均勻及測(cè)量誤差等問(wèn)題未能有效解決，PAUT，如圖7 所示。而ISONIC-UPA 相控陣設(shè)備具有角度補(bǔ)償功能，能有效地解決此類問(wèn)題。

所謂角度補(bǔ)償就是針對(duì)不同的聚焦法則，輸入扇形掃查所需的角度范圍及入射角度的增量后，晶片可以分別進(jìn)行角度增益調(diào)整，也就是晶片角度增益修正。

有了角度增益補(bǔ)償設(shè)置功能，可以取代傳統(tǒng)的通過(guò)設(shè)置DAC曲線的方法來(lái)補(bǔ)償增益變化。在ASME Case2557 標(biāo)準(zhǔn)中明確指出進(jìn)行扇形掃描時(shí)要進(jìn)行角度增益補(bǔ)償。角度增益補(bǔ)償曲線如圖8所示，經(jīng)過(guò)角度補(bǔ)償后得到的等量化數(shù)據(jù)。

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