無損探傷檢測工業(yè)C掃描檢測

（1）C掃描檢測對鑄件的檢測具有很高的分辨率，是目前準(zhǔn)確，可靠的無損評估方法之一；

（2）三維成像檢測可以觀察鑄件內(nèi)部缺陷的空間形狀，實現(xiàn)任意截面密度和內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸的測量，解決了兩者的掃描斷層方向和斷層不連續(xù)性的局限性體層析成像。一種非常重要的計算機(jī)輔助評估方法。

（3）解決了與快速原型的接口問題，從而實現(xiàn)了在逆向工程中的應(yīng)用，C掃描探傷，縮短了航天模具的設(shè)計，產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)周期。

超聲 C 掃描的基本原理

超聲 C 掃檢測本質(zhì)上是在常規(guī)超聲 A 掃檢測基礎(chǔ)上利用電子深度門記錄反射回波信號，通過接收電路放大后在示波屏上顯示，當(dāng)探頭對工件進(jìn)行整體掃查后，C掃描探傷廠家，即可得到工件內(nèi)部缺陷或界面的俯視圖。C 掃圖像可以直接反映工件內(nèi)部與聲束垂直方向上缺陷的二維形狀與分布，C掃描探傷報價，通過不同的顏色標(biāo)示缺陷的埋藏深度。

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超聲C掃描檢測設(shè)備

超聲C掃描檢測方式通常采用常規(guī)超聲探頭 雙軸掃查器的方式，但是隨著相控陣超聲技術(shù)及計算機(jī)技術(shù)的快速崛起，誕生了以超聲相控陣技術(shù)的C掃描檢測技術(shù)，即超聲相控陣多陣元探頭 雙軸掃查器的方式。相控陣超聲C掃描系統(tǒng)具有更高的精度和缺陷檢出率，更快的檢測速度和更高的圖像分辨率等優(yōu)點，因此其具有更高的發(fā)展空間，必定是今后超聲C掃描檢測的主流。

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