對比試樣校準(zhǔn)測量注意事項(xiàng)：

⒈在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，試樣校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

⒍測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。

⒏在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，試樣校準(zhǔn)，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

對比試樣校準(zhǔn)測量方法

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，試樣校準(zhǔn)哪家好，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中有五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。  X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，試樣校準(zhǔn)方案，測量范圍較小。因有射線源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。

對比試樣校準(zhǔn)根據(jù)測量原理分類

1.磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼﹨鐵﹨銀﹨鎳.此種方法測量精度高  

2.渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法精度低。  

3.超聲波測厚法:目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價(jià)格昂貴﹨測量精度也不高。  

4.電解測厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩。  

5.射線測厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬RMB以上)，適用于一些特殊場合。國內(nèi)目前使用較為普遍的是1﹨2兩種方法。

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