采集卡的抗干擾問題

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高速數(shù)據(jù)采集卡可能引進噪音，主要包括來自周圍電子器件的隨機干擾、與激光器發(fā)射相關的電磁干擾和本底基線偏移。本底基線指激光雷達系統(tǒng)的暗背景測量基線，理想情形它是一條水平直線?？墒窃趯嶋H系統(tǒng)中經常觀察到起點偏移，我們稱本底基線偏移。這種偏移很小，但是它不穩(wěn)定，它與真實的信號重疊在一起成為測量誤差。為了能探測到污染分子的存在，必須很大的提高系統(tǒng)靈敏度，通常要把激光測量重復幾千次甚至幾萬次以提高信噪比。同時必須盡量的減小各種干擾，包括這種基線偏移。

實驗證明，減小外觸發(fā)信號可以減小本底基線偏移；說明基線偏移的一個重要來源是外觸發(fā)電壓。其產生的原因可能是板卡設計上的缺陷，外觸發(fā)信號的一部分經過分布電容耦合到了信號輸入端?；€偏移的另一個重要來源是激光高壓放電脈沖干擾，它很不穩(wěn)定，與接線情況，地線好壞，板卡設計，溫度濕度等都有關系。

高速數(shù)據(jù)采集卡在局部放電檢測中的應用

局部放電的檢測對于電力設備運行的安全，避免突發(fā)性故障的發(fā)生及其重要。坤馳科技的高速數(shù)據(jù)采集卡具備高采樣率、高分辨率、寬帶寬等特點，可以滿足對放電信號的實時采集與分析，是局部放電檢測系統(tǒng)的重要組成部分。

內部局部放電：在介質內部或介質與電極之間的氣隙放電，都屬于內部局部放電。放電的特性與介質的特性和氣隙的形狀、大小、位置以及氣隙中氣體的性質有關。氣泡壁四周都為介質。

表面局部放電：放電過程與內部放電相同，不同為氣泡壁只有一邊為介質，高速數(shù)據(jù)采集模塊，另一邊為導體。

氣暈放電：發(fā)生在 導體周圍都是氣體的情況下

高速數(shù)據(jù)采集方式和PCIe總線的高速數(shù)據(jù)采集卡應是局放監(jiān)測系統(tǒng)在硬件上的發(fā)展趨勢，這種配置方式有利于局放信號的實時顯示與分析，高速數(shù)據(jù)采集終端，從而有利于對局放的信號特點和機理作進一步研究。

數(shù)據(jù)采集模塊跟數(shù)據(jù)采集卡有什么區(qū)別？

在系統(tǒng)基本工作原理方面

應用時，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)置于被監(jiān)控的設備處，通過傳感器對設備的電壓或者電流信號進行采樣、保持，并送入A/D轉換器變成數(shù)字信號，然后將該信號送到FIFO中。當FIFO中存放的數(shù)據(jù)到了一定數(shù)目時，高速數(shù)據(jù)采集，由ARM7從FIFO中讀出，然后通過ARM7的以太網(wǎng)接口或者RS232送給上位機。考慮到要監(jiān)控的設備可能會很多，所以設計了多路采集通道，他們經過模擬開關后再進入A/D轉換器。CPLD是整個系統(tǒng)的控制，他控制采集通道的切換、A/D轉換器的啟/停、轉換后的數(shù)據(jù)在FIFO中的存放地址發(fā)生器、產生中斷請求以通知ARM7讀取存放在FIFO中的數(shù)據(jù)等。

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