uTS原位加載系統(tǒng)：光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級(jí)精度測(cè)量需求。光學(xué)顯微鏡受可見光波長(zhǎng)限制分辨率只能達(dá)到250nm，上海原位加載設(shè)備哪里有賣，由于DIC技術(shù)具有強(qiáng)大圖像處理能力可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)0.1像素位移測(cè)量，因此uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)的分辨率可達(dá)到25nm。在光學(xué)顯微鏡下材料的原位加載實(shí)驗(yàn)中，較大挑戰(zhàn)在于加載過(guò)程產(chǎn)生的離面位移，高分辨率位移場(chǎng)需要高放大倍數(shù)顯微鏡，意味著景深很小，幾微米的離面位移就會(huì)造成顯微鏡失焦，上海原位加載設(shè)備哪里有賣。uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)離面位移有特殊的設(shè)計(jì)，有效地控制了離面位移對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果影響。將掃描電鏡與原位加載臺(tái)結(jié)合，上海原位加載設(shè)備哪里有賣,對(duì)材料的損傷破壞過(guò)程從細(xì),微觀角度進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測(cè)。上海原位加載設(shè)備哪里有賣

原位加載設(shè)備的研制：目前原位加載試驗(yàn)是一種結(jié)合材料表征分析手段的力學(xué)性能加載方式,可以很好的符合目前的力學(xué)測(cè)試與表征同時(shí)進(jìn)行的要求。原位加載試驗(yàn)是指材料在進(jìn)行拉伸/壓縮試驗(yàn)的同時(shí),對(duì)受測(cè)試樣進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測(cè),并記錄應(yīng)力-應(yīng)變曲線,將材料加載過(guò)程中產(chǎn)生的微觀形貌的變化與試樣的應(yīng)力-應(yīng)變曲線相結(jié)合,能更加深入的了解材料變形的具體原因。目前掃描電鏡電子背散射衍射(Electronbackscatterdiffraction)分析技術(shù)是一種應(yīng)用很廣的表征分析方法。此技術(shù)除了在對(duì)試樣進(jìn)行微觀形貌觀察外,同時(shí)還可以對(duì)試樣的晶體學(xué)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,相對(duì)于將傳統(tǒng)的微觀形貌和晶體學(xué)分析分開的研究辦法,有效的提高了分析技術(shù)的深度和應(yīng)用范圍。因此在此基礎(chǔ)上,開發(fā)一種基于掃描電鏡電子背散射衍射分析的原位加載裝置極其使用的試驗(yàn)方法非常有必要。上海原位加載設(shè)備哪里有賣CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有實(shí)時(shí)繪制多種曲線，助力試驗(yàn)研究。

SEM原位加載設(shè)備掃描電子顯微鏡：掃描電子顯微鏡，簡(jiǎn)稱為掃描電鏡，英文縮寫SEM（ScanningElectronMicroscope）。它是用細(xì)聚焦的電子束轟擊樣品表面，通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析。SEM已大范圍的應(yīng)用于材料、冶金、礦物、生物學(xué)領(lǐng)域。通常人眼能夠分辨的較小距離為0.2MM，為了觀察分析更微小的細(xì)節(jié)，人們發(fā)明了各種觀察儀器。出現(xiàn)的是光學(xué)顯微鏡，它利用可見光作為照明束照射樣品，再將照明束與樣品的作用結(jié)果由成像放大系統(tǒng)處理，構(gòu)成適合人眼觀察的放大像。一般而言光學(xué)顯微鏡能分辨的較小距離約為200um，是人眼的一千倍。

加速電壓會(huì)對(duì)掃描電鏡的觀測(cè)造成哪些影響呢？（1）選擇高加速電壓的優(yōu)點(diǎn)：加速電壓越高入射電子束的波長(zhǎng)越短，也就越容易得到高分辨力的圖像，還有抗外部電磁場(chǎng)的干擾能力也會(huì)增強(qiáng)，也不易受到試樣表層污染斑的影響，所以高的加速電壓比較適合拍攝高倍率的圖像。（2）選擇低加速電壓的優(yōu)點(diǎn)：掃描電鏡圖像的成像信息來(lái)源越趨于表面，圖像的表面細(xì)節(jié)就越顯得豐富、細(xì)膩，特別是會(huì)明顯減少邊緣效應(yīng)，使得到的圖像顯得更協(xié)調(diào)、柔和。另外，低加速電壓、小束斑對(duì)試樣表面的損傷小，不容易造成試樣的荷電和圖像的漂移，也會(huì)減輕對(duì)試樣的損傷。SEM加載腔的有限尺寸使得原位拉伸臺(tái)必須通過(guò)精密的加工工藝材料生產(chǎn)與組裝。

CT原位加載系統(tǒng)：基于ARM技術(shù)和WiFi技術(shù)給出了一種無(wú)線數(shù)據(jù)采集方案，避免了旋轉(zhuǎn)掃描過(guò)程中傳感器外接連線帶來(lái)的纏繞和遮擋問題，實(shí)現(xiàn)了多路數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)可靠采集。整個(gè)采集系統(tǒng)由安裝在加載裝置上的下位機(jī)、放置于CT屏蔽室的無(wú)線路由器、放置于CT監(jiān)控室的PC上位機(jī)三部分組成。下位機(jī)與路由器通過(guò)無(wú)線連接，路由器與上位機(jī)通過(guò)網(wǎng)線連接，從而實(shí)現(xiàn)下位機(jī)與上位機(jī)的網(wǎng)絡(luò)連接。下位機(jī)采用ARM+WiFi模式，電池供電，可以實(shí)現(xiàn)壓力變送器信號(hào)的高精度采集，并采用UDP協(xié)議將數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)傳輸給上位機(jī)。CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有多種保護(hù)功能，確保設(shè)備安全運(yùn)行。上海原位加載設(shè)備哪里有賣

CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有高溫/低溫適用于結(jié)構(gòu)對(duì)溫度敏感的樣品分析。上海原位加載設(shè)備哪里有賣

SEM原位加載設(shè)備的基本構(gòu)造和成像原理：組成部件：電子設(shè)備、電子透鏡、掃描系統(tǒng)、電子收集系統(tǒng)(形貌分析)、成像熒光屏、X射線接收系統(tǒng)。由電子設(shè)備發(fā)出的電子束在電場(chǎng)的作用下加速，經(jīng)過(guò)三個(gè)透鏡聚焦成直徑為5nm或更細(xì)的電子束。該電子束在樣品表面進(jìn)行逐行掃描，激發(fā)樣品產(chǎn)生出各種物理信號(hào)。信號(hào)探測(cè)器收集這些并按順序、成比例地轉(zhuǎn)換為視頻信號(hào)。通過(guò)對(duì)其中某種信號(hào)的撿測(cè)，視頻放大和信號(hào)處理，之后在顯示屏上獲得能反映樣品表面特征的掃描圖象。上海原位加載設(shè)備哪里有賣

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