CT檢測同位素輻射源

同位素輻射源的優(yōu)點(diǎn)是它的能譜簡單，消耗電能少，射線檢測方案，設(shè)備體積小且相對簡單，而且輸出穩(wěn)定。但是其缺點(diǎn)是輻射源的強(qiáng)度低，為了提高源的強(qiáng)度必須加大源的體積，射線檢測價(jià)格，導(dǎo)致“焦點(diǎn)”尺寸增大。在工業(yè)CT中較少實(shí)際應(yīng)用。

同步輻射本來是連續(xù)能譜，射線檢測報(bào)價(jià)，經(jīng)過單色器選擇可以得到定向的幾乎單能的高強(qiáng)度X射線，因此可以做成高空間分辨率的CT系統(tǒng)。但是由于射線能量為20KeV到30KeV，實(shí)際只能用于檢測1mm左右的小樣品，用于一些特殊的場合。

CT檢測X射線管發(fā)出的X射線能譜

低能射線部分其實(shí)并不能很好地穿透材料，或是根本不能。反而，低能射線會(huì)引起“射線硬化”而極大地?fù)p害圖像質(zhì)量。這一現(xiàn)象在掃描較“重”或是厚度較大的材料是尤為嚴(yán)重。為了除去射線中的低能部分，射線檢測，會(huì)在工件之前放置射線過濾片。過濾片的作用是阻擋低能射線，但同時(shí)會(huì)降低圖像的亮度。如果X射線管不能提供足夠的功率，那就不得不犧牲圖像的亮度或是忍受較高的圖像噪聲，從而降低掃描質(zhì)量。這樣的話高功率射線管帶來的好處就顯而易見了，高品味的X射線可以通過過濾來獲得，同時(shí)又不降低圖像亮度，從而保證了能夠得到較高的掃描質(zhì)量。

CT檢測發(fā)展

一代CT使用單源(一條射線)單探測器系統(tǒng)，系統(tǒng)相對于被檢物作平行步進(jìn)式移動(dòng)掃描以獲得N個(gè)投影值(1值)，被檢物則按M個(gè)分度作旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)，被檢物僅需轉(zhuǎn)動(dòng)180%。代CT機(jī)結(jié)構(gòu)簡單、成本低、圖像清晰，但檢測效率低，在工業(yè)CT中已經(jīng)很少采用。

二代CT是在第代CT基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。使用單源小角度扇形射線束多探頭，射線扇束角小、探測器數(shù)目少，因此扇束不能全包容被檢斷層，其掃描運(yùn)動(dòng)除被檢物作M幾個(gè)分度旋轉(zhuǎn)外，射線扇束與探測列架還要一起相對于被檢物作平移運(yùn)動(dòng)。在至全都覆蓋被檢物，得到所需的成像數(shù)據(jù)。

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