超聲相控陣的角度補(bǔ)償

傳統(tǒng)工業(yè)相控陣定量方法不具有角度、聲程、晶片增益修正技術(shù)，相控陣探傷哪家好，多晶片探頭通過(guò)楔塊入射到工件內(nèi)部時(shí)存在入射點(diǎn)漂移現(xiàn)象和能量分布變化。采用單一入射點(diǎn)校準(zhǔn)方式與常規(guī)距離-波幅曲線修正，相控陣探傷報(bào)價(jià)，造成的扇形掃查區(qū)域中能量分布不均勻及測(cè)量誤差等問(wèn)題未能有效解決，如圖7 所示。而ISONIC-UPA 相控陣設(shè)備具有角度補(bǔ)償功能，能有效地解決此類問(wèn)題。

所謂角度補(bǔ)償就是針對(duì)不同的聚焦法則，輸入扇形掃查所需的角度范圍及入射角度的增量后，相控陣探傷方案，晶片可以分別進(jìn)行角度增益調(diào)整，也就是晶片角度增益修正。

有了角度增益補(bǔ)償設(shè)置功能，可以取代傳統(tǒng)的通過(guò)設(shè)置DAC曲線的方法來(lái)補(bǔ)償增益變化。在ASME Case2557 標(biāo)準(zhǔn)中明確指出進(jìn)行扇形掃描時(shí)要進(jìn)行角度增益補(bǔ)償。角度增益補(bǔ)償曲線如圖8所示，經(jīng)過(guò)角度補(bǔ)償后得到的等量化數(shù)據(jù)。

相控陣超聲檢測(cè)

動(dòng)態(tài)深度掃描又稱動(dòng)態(tài)深度聚焦，超聲聲束沿陣元中軸線，對(duì)不同深度的焦點(diǎn)進(jìn)行掃描。分為發(fā)射動(dòng)態(tài)深度聚焦和接收動(dòng)態(tài)深度聚焦：發(fā)射動(dòng)態(tài)聚焦即在發(fā)射時(shí)以不同聚焦深度延遲對(duì)探頭進(jìn)行分別激發(fā)，聲束焦點(diǎn)在空間中深度方向延伸；接收動(dòng)態(tài)聚焦在發(fā)射時(shí)使用單個(gè)聚焦脈沖，通過(guò)接收時(shí)不同深度接收延遲對(duì)回波脈沖重新聚焦。右圖為動(dòng)態(tài)深度掃描示意圖，以及普通扇形掃描成像和動(dòng)態(tài)深度聚焦成像對(duì)比。

超聲相控陣技術(shù)的基本思想

超聲相控陣技術(shù)的基本思想來(lái)自于雷達(dá)電磁波相控陣技術(shù)。相控陣?yán)走_(dá)是由許多輻射單元排成陣列組成，通過(guò)控制陣列天線中各單元的幅度和相位，相控陣探傷，調(diào)整電磁波的輻射方向，在一定空間范圍內(nèi)合成靈活快速的聚焦掃描的雷達(dá)波束。超聲相控陣換能器由多個(gè)獨(dú)立的壓電晶片組成陣列，按一定的規(guī)則和時(shí)序用電子系統(tǒng)控制激發(fā)各個(gè)晶片單元，來(lái)調(diào)節(jié)控制焦點(diǎn)的位置和聚焦的方向。

相控陣探傷報(bào)價(jià)-北京納克無(wú)損(在線咨詢)-相控陣探傷由鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司提供。相控陣探傷報(bào)價(jià)-北京納克無(wú)損(在線咨詢)-相控陣探傷是鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司今年新升級(jí)推出的，以上圖片僅供參考，請(qǐng)您撥打本頁(yè)面或圖片上的聯(lián)系電話，索取聯(lián)系人：劉經(jīng)理。