CT檢測

工業(yè)CT檢測技術(shù)是以X 射線和γ射線作為輻射源的工業(yè)CT，射線檢測方案，其工作原理就是射線檢測的原理。計算機(jī)層析成像技術(shù)使用不同的能量波作為輻射源，射線檢測哪家好，其工作原理也有所不同。在工業(yè)無損檢測中廣泛應(yīng)用的是透射層析成像技術(shù)(ICT)，使用的輻射源多為x射線或y射線，包括低能X 射線或由產(chǎn)生的高能X射線，常用的γ射線同位素則有192Ir、137Cs 和60Co 等。

CT檢測射線源

在高能電子束轉(zhuǎn)換為X射線的過程中，僅有小部分能量轉(zhuǎn)換為X射線，大部分能量都轉(zhuǎn)換成了熱，焦點尺寸越小，陽極靶上局部功率密度越大，局部溫度也越高。實際應(yīng)用的功率是以陽極靶可以長期工作所能耐受的功率密度確定的。因此，小焦點乃至微焦點的的射線源的使用功率或大電壓都要比大焦點的射線源低。電子輻射發(fā)生器的共同缺點是X射線能譜的多色性，這種連續(xù)能譜的X 射線會引起衰減過程中的能譜硬化，導(dǎo)致各種與硬化相關(guān)的偽像。

CT檢測發(fā)展

一代CT使用單源(一條射線)單探測器系統(tǒng)，系統(tǒng)相對于被檢物作平行步進(jìn)式移動掃描以獲得N個投影值(1值)，射線檢測價格，被檢物則按M個分度作旋轉(zhuǎn)運動，被檢物僅需轉(zhuǎn)動180%。代CT機(jī)結(jié)構(gòu)簡單、成本低、圖像清晰，但檢測效率低，在工業(yè)CT中已經(jīng)很少采用。

二代CT是在第代CT基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。使用單源小角度扇形射線束多探頭，射線檢測，射線扇束角小、探測器數(shù)目少，因此扇束不能全包容被檢斷層，其掃描運動除被檢物作M幾個分度旋轉(zhuǎn)外，射線扇束與探測列架還要一起相對于被檢物作平移運動。在至全都覆蓋被檢物，得到所需的成像數(shù)據(jù)。

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