對比試樣校準概述

是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制造和檢修時必須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度；

對比試樣校準根據(jù)測量原理分類

1.磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼﹨鐵﹨銀﹨鎳.此種方法測量精度高  

2.渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法精度低。  

3.超聲波測厚法:目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，對比試樣/塊校準方案，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價格昂貴﹨測量精度也不高。  

4.電解測厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩。  

5.射線測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上)，對比試樣/塊校準，適用于一些特殊場合。國內(nèi)目前使用較為普遍的是1﹨2兩種方法。

對比試樣校準測量前的準備 

1. 對比試樣的人工缺陷應(yīng)使用酒精或C?H?O進行清洗，對比試樣/塊校準公司，用濾紙擦干，保持表面清潔，無銹蝕、金屬屑、毛刺、污染物等影響測量的缺陷。  

2. 將對比試樣人工缺陷平行放置在載物臺上(必要時使用合適的工裝予以固定)，調(diào)整試樣，對比試樣/塊校準報價，使人工槽長度或?qū)挾确较蚺c顯微測量設(shè)備的X或Y軸平行。

3. 顯微鏡在合適的明場條件下，先用低放大倍數(shù)（10×或20×）找到人工缺陷位置，再換至高放大倍數(shù)對試樣聚焦，調(diào)整載物臺及試樣，使人工缺陷處于視場中央。  調(diào)整測量設(shè)備，使測量面聚焦清晰，選擇測量點位。

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