對(duì)比試樣校準(zhǔn)類型

1.渦流-當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)方案，此渦流所產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)哪家好，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

2.同位素-利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

對(duì)比試樣校準(zhǔn)原理

1. 復(fù)型測(cè)量法  一種間接的測(cè)量方法，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)，通過將可塑性材料充滿在人工缺陷內(nèi)，經(jīng)過凝固成型后取出，直觀、形象、逼 真地再現(xiàn)人工缺陷的立體形貌，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)公司，取點(diǎn)、線、斷面采用相應(yīng)精度的量具對(duì)人工缺陷長(zhǎng)度、寬度、深度測(cè)量，獲 得人工缺陷的尺寸數(shù)據(jù)。  

2. 顯微測(cè)量法  直接通過讀數(shù)顯微鏡對(duì)人工缺陷放大后，以光學(xué)成像或聚焦方法瞄準(zhǔn)邊緣輪廓或表面，通過X、Y、Z軸在缺陷上移動(dòng)的距離直接測(cè)量人工槽的長(zhǎng)度、寬度、深度及通孔的直徑。

對(duì)比試樣校準(zhǔn)測(cè)量注意事項(xiàng)：

⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

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