對比試樣校準(zhǔn)的測試條件

一. 基體表面曲率 在一個平直的對比試樣上校準(zhǔn)好一個初始值，天津校準(zhǔn)試樣，然后在測量覆層厚度后減去這個初始值。 二.基體金屬較小厚度 基體金屬必須有一個給定的較小厚度，使探頭的電磁場能完全包容在基體金屬中，校準(zhǔn)試樣公司，較小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點(diǎn)而對測量值作相應(yīng)的修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵，便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。 

二. 如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測量誤差。測量該點(diǎn)的覆層厚度，需要在相同條件的無覆層表面進(jìn)行預(yù)先校準(zhǔn)后測量。

對比試樣校準(zhǔn)概述

是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制造和檢修時必須測量其厚度，校準(zhǔn)試樣機(jī)構(gòu)，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度；

對比試樣校準(zhǔn)使用注意事項

1.在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似?！　? 

2.在測量的時候要注意，側(cè)頭與試樣表面保持垂直?！　? 

3在進(jìn)行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。　  

4.在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。　　  

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