電容器是隔直流的，為什么電池（直流）可以為電容器充電？

在電路分析里，電路的響應(yīng)有兩種，一種是零輸入響應(yīng)，一種是零狀態(tài)響應(yīng)。

所謂零輸入響應(yīng)，指的是輸入信號為零；所謂零狀態(tài)響應(yīng)，指的是電路中所有儲能元件和各種電源的狀態(tài)均為零。

在分析零狀態(tài)響應(yīng)時，脈沖形成網(wǎng)絡(luò)人工線直銷，要把電壓源短路，電流源開路。

對于電容來說，在零狀態(tài)響應(yīng)的通電瞬間，它可以認為是電壓為零的電壓源，所以它相當于短路。

我們來看下圖：上一張圖是電路結(jié)構(gòu)，我們看到電源E和它的內(nèi)阻r，開關(guān)QF，還有電容C和電阻R。

爆漿的種類：

分兩類，輸入電容爆漿和輸出電容爆漿。

對于輸入電容來說，就是在電源電路中體積較大、容易較大、額定電壓高的電容器，對接收到的電流進行過濾。輸入電容爆漿和電源輸入電流及電容器本身的品質(zhì)有關(guān)。過多的毛刺電壓，峰值電壓過高，電流不穩(wěn)定等都使電容過于充放電過于頻繁，長時間處于這類工作環(huán)境下的電容，內(nèi)部溫度升高很快。超過泄爆口的承受極限就會發(fā)生爆漿。

對于輸出電容來說，對經(jīng)電源模塊調(diào)整后的電流進行濾波與儲能。此處電流經(jīng)過一次過濾，比較平穩(wěn)，發(fā)生爆漿的可能性相對來說小了不少。但如果環(huán)境溫度過高，電容同樣容易發(fā)生爆漿。

電容爆漿的原因有很多，比如電流大于允許的穩(wěn)波電流、使用電壓超出工作電壓、逆向電壓、頻繁的充放電等。但是直接的原因就是高溫。我們知道電容有一個重要的參數(shù)就是耐溫值，指的就是電容內(nèi)部電解液的沸點。當電容的內(nèi)部溫度達到電解液的沸點時，電解液開始沸騰，電容內(nèi)部的壓力升高，當壓力超過泄爆口的承受極限就發(fā)生了爆漿。所以說溫度是導致電容爆漿的直接原因。電容設(shè)計使用壽命大約為2萬小時，受環(huán)境溫度的影響也很大。電容的使用壽命隨溫度的增加而減小，實驗證明環(huán)境溫度每升高10℃，電容的壽命就會減半。主要原因就是溫度加速化學反應(yīng)而使介質(zhì)隨時間退化失效，這樣電容壽命終結(jié)。為了保證電容的穩(wěn)定性，寶應(yīng)脈沖形成網(wǎng)絡(luò)人工線，電容在插板前要經(jīng)過長時間的高溫環(huán)境的測試。即使是在100℃，的電容也可以工作幾千個小時。同時，提到的電容的壽命是指電容在使用過程中，脈沖形成網(wǎng)絡(luò)人工線廠家，電容容量不會超過標準范圍變化的10%。電容壽命指的是電容容量的問題，而不是設(shè)計壽命到達之后就發(fā)生爆漿。只是無法保證電容的設(shè)計的容量標準。所以，脈沖形成網(wǎng)絡(luò)人工線現(xiàn)貨，短時期內(nèi)，正常使用的板卡電容就發(fā)生爆漿的情況，這就是電容品質(zhì)問題。另外，不正常的使用情況也有可能發(fā)生電容爆漿的情況。

高頻領(lǐng)域中的電容器

一般情況下，我們接觸的多是中、低頻的電容器設(shè)計應(yīng)用，正如我們從初中開始學習電容器時也是赫茲數(shù)不是很高一樣。但是，往往當進入到了高頻率的領(lǐng)域時，我們面對的就不僅僅是肉眼所能看到的電容器了，更多的是那些我們根本無法直接察覺到的電容效應(yīng)。在這里我把從圖書館看到的和自己想到的關(guān)于高頻領(lǐng)域中的電容器應(yīng)用知識一一寫下來，以求對此有個比較系統(tǒng)一點的認識。

實際上，電容不僅僅只存在于電容器內(nèi)部，只要兩個不同電位的表面相互靠近時就會產(chǎn)生電場，即存在電容效應(yīng)，其作用就相當于一個電容器。這種無意間所形成的電容器給它一個名字就是寄生電容，它會造成電路中電流的中斷。由于這種電容往往與電路并聯(lián)，則頻率較高時，它將起到旁路信號的作用，即降低了信號的功率，從這個意義上來講，可以說是無形中構(gòu)成了一個LPF。

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