對比試樣校準(zhǔn)測量方法

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，對比試樣/塊校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)，X射線熒光法，對比試樣/塊校準(zhǔn)公司，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中有五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。  X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有射線源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

對比試樣校準(zhǔn)原理

1. 復(fù)型測量法  一種間接的測量方法，通過將可塑性材料充滿在人工缺陷內(nèi)，經(jīng)過凝固成型后取出，對比試樣/塊校準(zhǔn)方案，直觀、形象、逼 真地再現(xiàn)人工缺陷的立體形貌，對比試樣/塊校準(zhǔn)，取點(diǎn)、線、斷面采用相應(yīng)精度的量具對人工缺陷長度、寬度、深度測量，獲 得人工缺陷的尺寸數(shù)據(jù)。  

2. 顯微測量法  直接通過讀數(shù)顯微鏡對人工缺陷放大后，以光學(xué)成像或聚焦方法瞄準(zhǔn)邊緣輪廓或表面，通過X、Y、Z軸在缺陷上移動的距離直接測量人工槽的長度、寬度、深度及通孔的直徑。

對比試樣校準(zhǔn)測量結(jié)果差別大？

探頭的放置方法對測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與被測件外表堅(jiān)持筆直。而且探頭的放置時刻不宜過長，避免形成基體本身磁場的攪擾。測量時不要拖動探頭，由于這么不僅對探頭會形成磨損，也不會得到的測量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測量基座外表有銹蝕、測量現(xiàn)場周圍有電磁場攪擾等要素都有也許致使測量成果的反常，假如離電磁場十分近時還有也許會死機(jī)。

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