電容器的大與小

現(xiàn)在每個人都有一兩部手機，智能手機有大到小米MIX-6.4吋小到iPhone4-3.5吋，每個產(chǎn)品有大有小，大有大的好處，看視頻文字比較清晰，小也有小的好處，容易單手操作攜帶方便。

 安規(guī)電容器也一樣，產(chǎn)品外徑因材質(zhì)工藝不同有大有小，據(jù)雋創(chuàng)小編了解陶瓷電容器容量、性能一樣，但也有大有小，大的好處是絕緣好、性能穩(wěn)定，現(xiàn)在電源板要求的同時還要小巧精致，小尺寸的電容器就非常受歡迎。

陶瓷電容器的容量有大有小，電容的容量表示電容所能儲存的電荷的多少，容量對電源濾波來說大一點有好處！但容量太大漏電流就大，容易損壞整流二極管！加大電源損耗！還有就是大容量陶瓷電容器要比小容量陶瓷電容器貴，影響成本?？傊〉胶锰幨莻€不錯的選擇。

電子元器件有很多種，有陶瓷電容器、瓷片電容器、安規(guī)電容器、獨石電容器、薄膜電容器、點解電容器。。。。，大部分電容器都有不同性能與應(yīng)用。電解電容容量大，但一般電壓小35V左右，如選擇高電壓價格很昂貴。陶瓷電容耐壓大（4000VAC)但容量小z大10000PF左右?？梢娺x擇大與小都是根據(jù)產(chǎn)品性能及市場成本而定。

向陶瓷電容器施加超過其額定電壓的電壓，會導(dǎo)致短路故障還是開路故障　　

一般來說，向電容器施加過量電壓后都會導(dǎo)致短路故障。片狀獨石陶瓷電容器的損壞電壓為其額定電壓的5~10倍以上，稍高于額定電壓的外加電壓很難對電容器造成瞬間損壞。

但在使用中如向電容器施加的電壓超過其額定電壓，則不在保修范圍之內(nèi)。

電容器的電壓加速和溫度加速　　

通過電壓加速與溫度加速系數(shù)可推算出電容器的使用壽命?？蓪a(chǎn)品使用時的外部環(huán)境溫度及施加電壓作為參數(shù)進行公式化。 一般來說，阿列紐斯法則被廣泛用于加速公式中，而我們運用以下公式便可簡單地進行推算。 47_01cn.PNG 在此公式的基礎(chǔ)上，通過在更為嚴(yán)苛的條件(更高溫、更高電壓)下進行加速試驗，可推算出產(chǎn)品在實際使用環(huán)境下的使用壽命。 在此，CBB電容，我們一起來比較一下獨石陶瓷電容器的加速試驗與實際產(chǎn)品使用的假定環(huán)境。我們將電容器的加速試驗中將耐久試驗時間視為LA，將實際使用環(huán)境下的相當(dāng)年數(shù)視為LN，用于上述公式。 耐久試驗條件 假定使用環(huán)境 電壓加速系數(shù) 溫度加速系數(shù) 相應(yīng)年限 TA＝85°C VA＝20V LA＝1000h TN＝65°C VN＝5V n＝4 θ＝8 LN＝？h 這樣，我們即可通過在85°C、施加20V電壓的環(huán)境下進行了1000h的耐久試驗，推算出在5°C、施加5V電壓的環(huán)境下產(chǎn)品使用年限為1448155h(≒165年！)。計算中使用的電壓加速系數(shù)、溫度加速系數(shù)會由陶瓷材料的種類及構(gòu)造產(chǎn)生不同，薄膜電容廠家，但通過加速計算公式可在相對較短的時間內(nèi)利用試驗結(jié)果來驗證長時間的實際使用環(huán)境中的產(chǎn)品使用壽命。

向陶瓷電容器施加超過其額定電壓的電壓，會導(dǎo)致短路故障還是開路故障　　

一般來說，電容，向電容器施加過量電壓后都會導(dǎo)致短路故障。片狀獨石陶瓷電容器的損壞電壓為其額定電壓的5~10倍以上，稍高于額定電壓的外加電壓很難對電容器造成瞬間損壞。

但在使用中如向電容器施加的電壓超過其額定電壓，則不在保修范圍之內(nèi)。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。

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