【廣告】
如何避免信號源出現(xiàn)問題
一)規(guī)范操作
1. 避免信號源過載(典型的反向保護功率電平30dBm)
輸出信號反射或外部偏置,導致前端過載損壞。
測試前,把信號幅度減至安全電平,避免信號對信號源的輸入輸出端口造成意外沖擊。
2.不要超過指標數(shù)據(jù)和黃色警示標簽數(shù)值。
二)良好的使用環(huán)境
另外,還需要定期檢查和清潔頻譜儀的通風口,避免影響儀器散熱,過高的溫度會影響儀器性能指標。因為頻譜儀的工作溫度20℃~30℃。同時使用環(huán)境應當潔凈少塵,射頻信號源銷售,灰塵不僅影響散熱還會對儀器的端口產(chǎn)生連接問題。
水平分辨率(HA):水平分辨率表示創(chuàng)建波形可以使用的時間增量。一般來說,使用下面公式計算:
T=1/F(T是定時分辨率,單位為秒,F(xiàn)是采樣率)。
存儲深度(Wsiz):存儲深度與時鐘頻率一起使用,確定波形的點數(shù)。存儲深度決定著可以存儲的樣點數(shù)量。每個波形的樣點占用一個存儲器位置。每個位置等于當前時鐘頻率下采樣間隔的時間。
采樣速率(fs):采樣速率通常用每秒兆樣點或千兆樣點表示,表明儀器可以運行的時鐘或采樣速率。采樣速率影響主要輸出信號的頻率帶寬和保真度,公式如下:
信號輸出頻率帶寬=采樣速率÷存儲深度,即Fw=fs÷Wsize
以AM為例,實現(xiàn)AM波的關(guān)鍵是在調(diào)制之前必須在調(diào)制信號上疊加一個直流電壓。板端調(diào)制的原理是:FPGA直接輸出AM調(diào)制需要的衰減器控制電壓,通過數(shù)模轉(zhuǎn)換和驅(qū)動放大后驅(qū)動模擬衰減器。一般的,射頻信號源,如果AM調(diào)制在基帶信號頻率比如低于xxxHz時,AM性能主要受ALC電路的控制,當基帶信號頻率大于xxxkHz時,性能主要受AM直接調(diào)制電路控制。如果AM調(diào)制在某一載波頻率(射頻信號頻率)下的AM調(diào)制出現(xiàn)錯誤,射頻信號源維修,可以用改變基帶信號頻率的方法初步判斷引起錯誤的原因是在ALC部分電路還是AM直接調(diào)制部分的電路。
射頻信號源支持內(nèi)調(diào)制和外調(diào)制,也就是說支持內(nèi)部源和外部源的意思。內(nèi)部源不用說了,外部源是通過儀表前面板的ExtModInput接口接入就好,可以選擇使用DG任意波形發(fā)生器類的儀表來提供外部源,接口為BNC類型。
企業(yè): 天津國電儀訊科技有限公司
手機: 13512869849
電話: 022-58530359
地址: 天津市西青經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)賽達九緯路七號電子城大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)園10號樓314-315室