輻射近場測量的可信域：對于平面輻射近場測量而言，由基本理論可知，在θ=-90°或90°（θ為場點偏離天線口面法線方向的方向角）時，這種方法的精度明顯變差，因此平面輻射近場測量適用于天線方向圖為單向筆形波束天線的測量，可信域（-θ，θ）中的θ值與近場掃描面和取樣間距有如下關(guān)系（一維情況）：θ=arctg［（L-X）/2d］，深圳手機近場輻射儀器，（1）式中L為掃描面的尺寸；X為天線口徑面的尺寸；d為掃描面到天線口徑面的距離。輻射近場測量的研究與誤差分析的探討是同時進行的，研究結(jié)果表明：輻射近場測量的主要誤差源為18項，大致分為4個方面，深圳手機近場輻射儀器，即探頭誤差、機械掃描定位誤差、測量系統(tǒng)誤差以及測量環(huán)境誤差。對于平面輻射近場測量的誤差分析已經(jīng)完成，深圳手機近場輻射儀器，計算機模擬及各項誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場測量的誤差分析尚未完成。近的距離分界點是可能時，近場分量和遠場成分的強度大致相同的時間的距離。深圳手機近場輻射儀器

散射近場測量：當(dāng)輻射體變?yōu)樯⑸潴w時，輻射近場測量轉(zhuǎn)換為散射近場測量。由于散射體是無源的，因此需要一個照射源對其進行照射，同輻射近場測量一樣，散射近場測量也有3種取樣方式，分別稱為平面散射近場測量和柱面散射近場測量以及球面散射近場測量。平面散射近場已取得了許多研究成果，柱面、球面散射近場測量的研究成果公開報道的文獻很少。散射體的散射特性通常用雷達散射截面（RadarCrossSection，簡寫為RCS）來衡量，有一定量和相對量之分，一定量一般是以一個已知散射體的RCS為標(biāo)準來標(biāo)定待測散射體的RCS，標(biāo)準值來自理論計算和測量值；相對量用散射方向圖來表示。深圳手機近場輻射儀器在衍射光學(xué)中，近場定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過透鏡會聚后。

在產(chǎn)品進行EMC測試過程中，往往會存在一些解決電磁干擾問題，重要的是判斷干擾的來源，只有準確地將干擾源定位之后，才能夠提出解決電磁干擾的對癥措施。在電磁兼容合規(guī)預(yù)測試中，使用德國安諾尼的各種標(biāo)準EMC天線進行輻射泄漏測試，一般都是采用遠場測量。標(biāo)準的遠場輻射泄漏測量，可以比較定量地告訴我們被測設(shè)備是否符合國家或國際EMC標(biāo)準，是否存在超出國家或國際EMC標(biāo)準的電磁輻射干擾，其電磁干擾的頻率是多少，輻射強度是多少。

展示了典型的半波偶極子天線是如何產(chǎn)生電場和磁場的。轉(zhuǎn)發(fā)后的信號被調(diào)制為正弦波，電壓呈極性變化，因此在天線的各元件間生成了電場，極性每半個周期變換一次。天線元件的電流產(chǎn)生磁場，方向每半個周期變換一次。電磁場互為直角正交。圍繞著半波偶極子的電磁場包括一個電場和一個磁場，電磁場均為球形且互成直角。天線旁邊的磁場呈球形或弧形，特別是距離天線近的磁場。這些電磁場從天線向外發(fā)出，越向外越不明顯，特性也逐漸趨向平面。接收天線通常接收平面波。在性能評價中，近場向遠場的釋放量構(gòu)成了遠場模式計算的源項。

為了規(guī)范電子產(chǎn)品的電磁兼容性，所有的發(fā)達國家和部分發(fā)展中國家都制定了電磁兼容標(biāo)準。電磁兼容標(biāo)準是使產(chǎn)品在實際電磁環(huán)境中能夠正常工作的基本要求。之所以稱為基本要求，也就是說，產(chǎn)品即使?jié)M足了電磁兼容標(biāo)準，在實際使用中也可能會發(fā)生干擾問題。大部分國家的標(biāo)準都是基于國際電工委員會（IEC）所制定的標(biāo)準。EMC（ElectromagneTIcCompaTIbility）是電磁兼容，它包括EMI（電磁干擾）和EMS（電磁抗干擾）。EMC定義為：設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中的任何設(shè)備的任何事物構(gòu)成不能承受的電磁干擾的能力。EMC整的稱呼為電磁兼容。EMP是指電磁脈沖。從物理概念上講，無功近場區(qū)是一個儲能場。深圳手機近場輻射儀器

雖然電磁場存在于天線周圍，但他們會向外擴張。深圳手機近場輻射儀器

平面散射近場測量的基本理論已由文獻［12～15］給出。其基本原理是綜合平面波法，綜合平面波的基本思想為：如果對一個由N個輻射單元組成的線陣同時進行激勵，每個輻射單元產(chǎn)生一個準球面波e（θ，φ），選擇一個與方向角（θ，φ）有關(guān)的權(quán)函數(shù)W（θ，φ）對每個e（θ，φ）進行加權(quán)并求和（線性系統(tǒng)），則所得的加權(quán)求和函數(shù)近似為均勻平面波，對不同方向的（θ，φ）選擇不同W（θ，φ）就可以獲得不同方向上的平面波對被測目標(biāo)的照射。這一過程實現(xiàn)了對平面波的綜合（這與綜合口徑雷達SAR的概念極為相似），并很容易在計算機上完成。深圳手機近場輻射儀器

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