高壓瓷片電容耐電壓的測試條件

1，測試設(shè)備

交流耐電壓的測試設(shè)備應(yīng)具有能夠產(chǎn)生類似于50/60Hz正弦波的性能，如果施加變形的正弦波或超過規(guī)定電壓值的過載電壓，則可能會導(dǎo)致故障。

2，電壓外加方法

施加耐電壓時，電容器的引線或端子應(yīng)與耐電壓測試設(shè)備的輸出端連接牢固;然后再將電壓從近零增加到測試電壓，如果測試電壓不從近零逐漸提高而是直接施加在電容器上，則施加時應(yīng)包含過零點。測試結(jié)束時，測試電壓應(yīng)降到近零;然后再將電容器引線或端子從耐電壓測試設(shè)備的輸出端取下，如果測試電壓不從近零逐漸提高而是直接施加在電容器上，則可能會出現(xiàn)浪涌電壓，從而導(dǎo)致故障.0V電壓正弦波過零點是指電壓正弦通過0V的位置。

3，失效安全性

當(dāng)電容器損壞時，失效可能會導(dǎo)致短路，為了避免在短路時引起觸電，冒煙，火災(zāi)等危險情況，請在電路中使用熔絲等元件來設(shè)置自動防故障功能，使用本產(chǎn)品時如忽略上述警告事項，瓷片電容12KV，在嚴(yán)重情況下可能導(dǎo)致短路，并引起冒煙或局部離散。

同方迪一解析瓷片電容短路的情況

瓷片電容是一種用陶瓷材料作介質(zhì)，超高壓瓷片電容12KV，在陶瓷表面涂覆一層金屬薄膜，再經(jīng)高溫?zé)Y(jié)后作為電極而成的電容器。通常用于高穩(wěn)定振蕩回路中，作為回路、旁路電容器及墊整電容器。瓷片電容的短路情況是怎樣導(dǎo)致的呢，一起跟小編探尋一下相關(guān)的原因。

電容的時候命與溫度直接有關(guān)，環(huán)境溫度越高，電容壽命越短。如果散熱旁及大功率元器件旁的電容，離其越近，損壞的可能性就越大。在一臺探傷儀的電源，用戶反應(yīng)有煙從電源冒出來，超高壓瓷片電容12KV，拆開機箱后發(fā)現(xiàn)離得遠的電容器沒有損壞。瓷片電容出現(xiàn)短路的情況，發(fā)現(xiàn)電容離發(fā)熱部件比較近。所以在檢修查找時應(yīng)有所側(cè)重。有些電容漏電比較嚴(yán)重，用手指觸摸時會燙手，這種電容須更換。

瓷片電容損壞的表現(xiàn)為：容量變小，完全失去容量，漏電，短路。操作錯誤也會使瓷片電容出現(xiàn)損壞的現(xiàn)象。有小伙伴提出剛收到手的瓷片電容沒多久就出現(xiàn)問題，這可能是電容器的品質(zhì)不過關(guān)而導(dǎo)致的。購買瓷片電容別忘記尋找有保障的廠家！

超高壓瓷片電容器熱設(shè)計介紹

超高壓瓷片電容器熱設(shè)計涉及的問題比較復(fù)雜，超高壓瓷片電容12KV，除了電容器內(nèi)的熱源較多(電場作用下，產(chǎn)生熱的不只是工作介質(zhì)，還有極板、引線、輔助介質(zhì)等)外，電容器內(nèi)部的導(dǎo)熱情況和熱流方向錯綜復(fù)雜;介質(zhì)的損耗角正切和電導(dǎo)隨工作狀態(tài)的變化;各部分能量損耗隨諸多因素(散熱系數(shù)、溫度、電壓、環(huán)境氣流等)而改變等，很難用完整的計算來反映眾多因素的共同影響。目前所應(yīng)用的熱計算理論都是在下列假設(shè)的基礎(chǔ)上建立起來的。

(1)電容器內(nèi)的熱源主要是工作介質(zhì)，而把其它部分的功率損耗忽略;

(2)電容器的散熱熱流方向(包括內(nèi)部導(dǎo)熱和外部散熱的方向)只是垂直于電容器的側(cè)面;

(3)電容器的表面散熱系數(shù)是一個常數(shù);

(4)工作介質(zhì)的電導(dǎo)和損耗角正切與介質(zhì)厚度、電壓無關(guān)，它們與溫度間呈指數(shù)關(guān)系，且忽略參數(shù)分散性;

(5)介質(zhì)的介電常數(shù)與溫度無關(guān)。

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