RoHS分析儀的分析原理

波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長:

nλ=2dsinaθ (n=1，2，3…)

式中 ，λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測(cè)元素的特點(diǎn)信息。

能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量:

Q=kE式中，E為入射射線的光子能量;Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特點(diǎn)信息。

待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

期望大家在選購RoHS分析儀時(shí)多一份細(xì)心，少一份浮躁，不要錯(cuò)過細(xì)節(jié)疑問。想要了解更多RoHS分析儀的相關(guān)資訊，歡迎撥打圖片上的熱線電話！?。?/p>

RoHS分析儀拆分規(guī)則

想了解更多關(guān)于RoHS分析儀的相關(guān)資訊，請(qǐng)持續(xù)關(guān)注本公司。

1. 拆分的目標(biāo)是通過適當(dāng)?shù)牟鸱质侄蝸慝@得構(gòu)成電子電氣產(chǎn)品的均質(zhì)材料。需采取適當(dāng)?shù)牟鸱质侄蝸慝@得均質(zhì)材料，以確 

保拆分結(jié)果用于后續(xù)測(cè)試時(shí)，rohs元素分析儀哪家好，不會(huì)因?yàn)椴鸱植划?dāng)而產(chǎn)生錯(cuò)誤判斷。

2. 同一生產(chǎn)廠生產(chǎn)的相同功能、規(guī)格（參數(shù)）的多個(gè)模塊、部件或元器件可以歸為一類，從中選取代表性的樣品進(jìn)行拆

分，使用相同的材料（包括基材和添加劑）生產(chǎn)的不同部件可視為一個(gè)檢測(cè)單元。

3. 顏色不同的材料應(yīng)拆分為不同的檢測(cè)單元。

4. 對(duì)于相關(guān)法律法規(guī)中規(guī)定的豁免清單中的項(xiàng)目或材料，在拆分中應(yīng)予以識(shí)別。

X熒光光譜分析儀分類

北京京國藝科技發(fā)展有限公司生產(chǎn)、銷售RoHS分析儀，以下信息由北京京國藝科技發(fā)展有限公司為您提供。

X熒光光譜分析儀分類：

X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。

以檢測(cè)X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型，以檢測(cè)能量特征為原理的稱為能量色散型。

我公司生產(chǎn)的RoHS檢測(cè)儀屬于能量色散型X熒光光譜分析儀。相較波長色散型而言，它的缺點(diǎn)是數(shù)據(jù)精度比波長色散型低。但是操作簡單，無需制樣，采購與維護(hù)成本低。

rohs元素分析儀哪家好「在線咨詢」由北京京國藝科技發(fā)展有限公司提供。行路致遠(yuǎn)，砥礪前行。北京京國藝科技發(fā)展有限公司致力成為與您共贏、共生、共同前行的戰(zhàn)略伙伴，更矢志成為機(jī)械加工具有競(jìng)爭(zhēng)力的企業(yè)，與您一起飛躍，共同成功!同時(shí)本公司還是從事貴金屬分析儀，測(cè)金儀，黃金檢測(cè)儀的廠家，歡迎來電咨詢。