使用熱釋光劑量片時需要注意哪些？

1、測量后應將探測器放在金屬盒里或金屬板上；

2、要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器，以免沾污。對污染的片狀探測器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)盡量剔除，切勿用擦洗再用；

3、熱釋光探測器要用清潔、光滑、不起毛紙包裝；

4、放置熱釋光探測器的器具要保持清潔，要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器；

5、熱釋光探測器在照射后和經過熱處理后盡量放在的熱釋光探測器低本底鉛室或其它低本底鉛室中保存。

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熱釋光劑量片的原理

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熱釋光劑量片是利用熱致發(fā)光原理測量核輻射的裝置。具有晶體結構的某些固體，常含有多種晶格缺陷(如一些原子或離子缺位或加入某些外來雜質等)，它們能吸引異性電荷形成"陷阱"。當射線照射時，在固體中產生的電子和正離子被其俘獲。檢測時加熱固體，則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復合并發(fā)光。其發(fā)光光線穿過并導至光電倍增管產生光電流，再經直流放大器放大，通過記錄器記錄。

廣泛應用于輻射防護、醫(yī)學、生物學、地質學、考古學和環(huán)境保護等領域，尤其在個人劑量監(jiān)測中被廣泛使用。

熱釋光探測器的依據(jù)標準

熱釋光探測器的基本依據(jù)是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲存作用。當加熱到一定溫度時又以發(fā)光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關系。

當磷光體（晶體）受到電離輻照時，射線與晶體相互作用，熱釋光劑量系統(tǒng)價格，產生電離和激發(fā)，使晶體價帶中的電子獲得足夠的能量游離出來，上升到導帶，在價帶中剩下空穴。被電離激發(fā)的電子空穴在亞穩(wěn)態(tài)能級分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發(fā)），這些缺陷稱為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統(tǒng)稱為“發(fā)光中心”。處于亞穩(wěn)態(tài)能級上的電子和空穴在無外源激發(fā)的環(huán)境下，可以長時間滯留在缺陷中。隨著時間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發(fā)的電子和空穴數(shù)量增加，所以在線性劑量范圍內磷光體熱釋光的強度與所接受的輻射劑量成正比。

當加熱磷光體時，電子和空穴從發(fā)光中心中逸出，電子和空穴快速復合，或游弋經導帶后與禁帶中的空穴復合。在上述幾種復合過程中，都以可見光或紫外光的形式釋放能量，這種現(xiàn)象稱為熱釋光。

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