熱釋光探測(cè)器的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

熱釋光探測(cè)器的基本依據(jù)是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲(chǔ)存作用。當(dāng)加熱到一定溫度時(shí)又以發(fā)光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關(guān)系。

當(dāng)磷光體（晶體）受到電離輻照時(shí)，射線與晶體相互作用，產(chǎn)生電離和激發(fā)，使晶體價(jià)帶中的電子獲得足夠的能量游離出來(lái)，上升到導(dǎo)帶，在價(jià)帶中剩下空穴。被電離激發(fā)的電子空穴在亞穩(wěn)態(tài)能級(jí)分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發(fā)），這些缺陷稱(chēng)為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統(tǒng)稱(chēng)為“發(fā)光中心”。處于亞穩(wěn)態(tài)能級(jí)上的電子和空穴在無(wú)外源激發(fā)的環(huán)境下，可以長(zhǎng)時(shí)間滯留在缺陷中。隨著時(shí)間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發(fā)的電子和空穴數(shù)量增加，所以在線性劑量范圍內(nèi)磷光體熱釋光的強(qiáng)度與所接受的輻射劑量成正比。

當(dāng)加熱磷光體時(shí)，GR200A維修，電子和空穴從發(fā)光中心中逸出，電子和空穴快速?gòu)?fù)合，或游弋經(jīng)導(dǎo)帶后與禁帶中的空穴復(fù)合。在上述幾種復(fù)合過(guò)程中，都以可見(jiàn)光或紫外光的形式釋放能量，這種現(xiàn)象稱(chēng)為熱釋光。

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使用熱釋光劑量片時(shí)需要注意哪些？

1、測(cè)量后應(yīng)將探測(cè)器放在金屬盒里或金屬板上；

2、要用清潔的鑷子輕取探測(cè)器，切勿用手接觸探測(cè)器，以免沾污。對(duì)污染的片狀探測(cè)器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)盡量剔除，切勿用擦洗再用；

3、熱釋光探測(cè)器要用清潔、光滑、不起毛紙包裝；

4、放置熱釋光探測(cè)器的器具要保持清潔，要用清潔的鑷子輕取探測(cè)器，切勿用手接觸探測(cè)器；

5、熱釋光探測(cè)器在照射后和經(jīng)過(guò)熱處理后盡量放在的熱釋光探測(cè)器低本底鉛室或其它低本底鉛室中保存。

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你對(duì)熱釋光劑量片了解多少？

對(duì)中子的響應(yīng)：對(duì)重粒子所致吸收劑量的響應(yīng)有LET依賴(lài)性，這有利于差出n、γ混合場(chǎng)中γ成分。

貯存信息的穩(wěn)定性：室溫下存放一個(gè)月無(wú)明顯減退，在50℃下存放一個(gè)月會(huì)減退約3%。

光照效應(yīng)：對(duì)室內(nèi)散射日光、白熾燈光、熒光燈無(wú)明顯響應(yīng)；對(duì)直射日光(紫外光)有響應(yīng)

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