熱釋光劑量片的應(yīng)用領(lǐng)域

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◆ 核工業(yè)，電站輻射防護(hù)，包括個(gè)人，環(huán)境和事故劑量監(jiān)測(cè)等

◆ 性生物學(xué)（研究電離輻射引起的生物效應(yīng)，準(zhǔn)確估計(jì)所受計(jì)量等）

◆ 醫(yī)學(xué)（線診斷的人受照劑量的監(jiān)測(cè)，研究人體受照劑量分布）

◆ 地質(zhì)學(xué)（研究地層構(gòu)造，地質(zhì)年代，進(jìn)行鈾礦普查，天熱本底調(diào)查，地下水及石油勘探等）

◆ 考古學(xué)（測(cè)定陶器年代等）等領(lǐng)域，對(duì)χ、γ射線和中子、γ混合場(chǎng)中熱中子進(jìn)行累積劑量測(cè)量，用于保護(hù)環(huán)境和人員安全

熱釋光探測(cè)器的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

熱釋光探測(cè)器的基本依據(jù)是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲(chǔ)存作用。當(dāng)加熱到一定溫度時(shí)又以發(fā)光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關(guān)系。

當(dāng)磷光體（晶體）受到電離輻照時(shí)，射線與晶體相互作用，產(chǎn)生電離和激發(fā)，使晶體價(jià)帶中的電子獲得足夠的能量游離出來(lái)，上升到導(dǎo)帶，在價(jià)帶中剩下空穴。被電離激發(fā)的電子空穴在亞穩(wěn)態(tài)能級(jí)分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發(fā)），這些缺陷稱為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統(tǒng)稱為“發(fā)光中心”。處于亞穩(wěn)態(tài)能級(jí)上的電子和空穴在無(wú)外源激發(fā)的環(huán)境下，可以長(zhǎng)時(shí)間滯留在缺陷中。隨著時(shí)間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發(fā)的電子和空穴數(shù)量增加，所以在線性劑量范圍內(nèi)磷光體熱釋光的強(qiáng)度與所接受的輻射劑量成正比。

當(dāng)加熱磷光體時(shí)，電子和空穴從發(fā)光中心中逸出，電子和空穴快速?gòu)?fù)合，或游弋經(jīng)導(dǎo)帶后與禁帶中的空穴復(fù)合。在上述幾種復(fù)合過(guò)程中，都以可見(jiàn)光或紫外光的形式釋放能量，這種現(xiàn)象稱為熱釋光。

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熱釋光探測(cè)器的優(yōu)勢(shì)

在室溫下工作，不需制冷即能獲得很高的靈敏度，可與低溫下高靈敏度的測(cè)輻射熱計(jì)相媲美。輸出阻抗是純電容性的，直流阻抗極高。體積小、重量輕、堅(jiān)固。因此，熱釋光探測(cè)器是一種很理想的紅外輻射探測(cè)器，在熱探測(cè)領(lǐng)域中占有十分重要的位置。

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