熱釋光探測器的依據(jù)標準

熱釋光探測器的基本依據(jù)是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲存作用。當加熱到一定溫度時又以發(fā)光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關(guān)系。

當磷光體（晶體）受到電離輻照時，射線與晶體相互作用，產(chǎn)生電離和激發(fā)，使晶體價帶中的電子獲得足夠的能量游離出來，上升到導(dǎo)帶，在價帶中剩下空穴。被電離激發(fā)的電子空穴在亞穩(wěn)態(tài)能級分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發(fā)），這些缺陷稱為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統(tǒng)稱為“發(fā)光中心”。處于亞穩(wěn)態(tài)能級上的電子和空穴在無外源激發(fā)的環(huán)境下，可以長時間滯留在缺陷中。隨著時間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發(fā)的電子和空穴數(shù)量增加，GR200A價格，所以在線性劑量范圍內(nèi)磷光體熱釋光的強度與所接受的輻射劑量成正比。

當加熱磷光體時，電子和空穴從發(fā)光中心中逸出，電子和空穴快速復(fù)合，或游弋經(jīng)導(dǎo)帶后與禁帶中的空穴復(fù)合。在上述幾種復(fù)合過程中，都以可見光或紫外光的形式釋放能量，這種現(xiàn)象稱為熱釋光。

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熱釋光探測器的特點

頻率特性好。其他熱探測器都是在熱平衡后輸出較大，工作時輻照時間必須大于熱平衡的時間常數(shù)（一般為數(shù) ms 至數(shù)十 ms）。而熱釋電探測器，是在非熱平衡狀態(tài)下工作的，熱平衡時反而沒有輸出，因此工作時輻照時間必須小于熱平衡時間常數(shù)（一般為 0.1～1s）。也就是說它的工作速度不受熱平衡的限制，GR200A中國代理，其頻率的上限主要取決于其等效電容和后續(xù)電路。

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熱釋光探測器的原理

熱釋光探測器是利用熱致發(fā)光原理測量輻射的裝置。當射線照射時，GR200A，在固體中產(chǎn)生的電子和正離子被其俘獲。檢測時加熱固體，則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復(fù)合并發(fā)光。其發(fā)光光線穿過并導(dǎo)至光電倍增管產(chǎn)生光電流，再經(jīng)直流放大器放大，后通過記錄器記錄。

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