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測量方法:測量和相對(duì)測量:測量器具的示值直接反映被測量量值的測量為測量。用游標(biāo)卡尺、外徑千分尺測量軸徑不僅是測量,也是測量。將被測量與一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)量值進(jìn)行比較得到兩者差值的測量為相對(duì)測量。如用內(nèi)徑百分表測量孔徑為相對(duì)測量。測量方法:單項(xiàng)測量和綜合測量:對(duì)個(gè)別的、彼此沒有聯(lián)系的某一單項(xiàng)參數(shù)的測量稱為單項(xiàng)測量。同時(shí)測量個(gè)零件的多個(gè)參數(shù)及其綜合影響的測量。用測量器具分別測出螺紋的中徑、半角及螺距屬單項(xiàng)測量;而用螺紋量規(guī)的通端檢測螺紋則屬綜合測量。測量方法:被動(dòng)測量和主動(dòng)測量:產(chǎn)品加工完成后的測量為被動(dòng)測量;正在加工過程中的測量為主動(dòng)測量。被動(dòng)測量只能發(fā)現(xiàn)和挑出不合格品。而主動(dòng)測量可通過其測得值的反饋,控制設(shè)備的加工過程,預(yù)防了不合格品的產(chǎn)生。
為減小測量不確定度,應(yīng)盡可能遵守以下基本測量原則:基準(zhǔn)統(tǒng)一原則,測量基準(zhǔn)要與加工基準(zhǔn)和使用基準(zhǔn)統(tǒng)一。即工序測量應(yīng)以工藝基準(zhǔn)作為測量基準(zhǔn),激光跟蹤儀測量,終檢測量應(yīng)以設(shè)計(jì)基準(zhǔn)作為測量基準(zhǔn)。測量方法:接觸測量和非接觸測量:測量器具的測頭與被測件表面接觸并有機(jī)械作用的測力存在的測量為接觸測量。如用光切法顯微鏡測量表面粗糙度即屬于非接觸測量。測高,測量高差通常用精密水準(zhǔn)儀進(jìn)行。當(dāng)視線短至5~10米時(shí),測量高差的精度可以達(dá)到 0.05毫米左右。用帶有機(jī)械測微裝置的精密水準(zhǔn)器安裝設(shè)備時(shí),測量相距不到 1.5米的兩點(diǎn)高差精度,可以達(dá)到0.01毫米左右。用精密的液體靜力水準(zhǔn)儀測量高差的誤差可減少至幾個(gè)微米。應(yīng)用電子技術(shù)判斷水準(zhǔn)器氣泡居中的精度為0.5"。
通常用精密經(jīng)緯儀進(jìn)行,以其望遠(yuǎn)鏡的視準(zhǔn)面為基礎(chǔ),從而測定目標(biāo)點(diǎn)的橫向偏離值。要求高度時(shí)可用準(zhǔn)直望遠(yuǎn)鏡。張緊的弦線也可用作基準(zhǔn)線,并用讀數(shù)顯微鏡測量設(shè)備部件距離基準(zhǔn)線的垂距。激光束也可作為基準(zhǔn)線,有時(shí)使激光束經(jīng)菲涅耳波帶板干涉形成光點(diǎn)或亮十字絲像,配合光電接收靶進(jìn)行準(zhǔn)直測量,如果激光束在真空管道中傳輸,則波帶板準(zhǔn)直法精度可以達(dá)準(zhǔn)直長度的10的-7次方數(shù)量級(jí)。測量誤差定義:被測量的測得值x與其真值x 0之差,即:△= x -x 0 由于真值是不可能確切獲得的,因而上述善于測量誤差的定義也是理想要概念。在實(shí)際工作中往往將比被測量值的可信度(精度)更高的值,作為其當(dāng)前測量值的“真值。測量器具:測量器具設(shè)計(jì)中存在的原理誤差,如杠桿機(jī)構(gòu)、阿貝誤差等。制造和裝配過程中的誤差也會(huì)引起其示值誤差的產(chǎn)生。例如刻線尺的制造誤差、量塊制造與檢定誤差、表盤的刻制與裝配偏心、光學(xué)系統(tǒng)的放大倍數(shù)誤差、齒輪分度誤差等。其中重要的是基準(zhǔn)件的誤差,如刻線尺和量塊的誤差,它是測量器具誤差的主要來源。
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