氦質(zhì)譜檢漏儀的原理

正常運(yùn)行時(shí)，空氣經(jīng)過漏點(diǎn)被吸入凝汽器后被真空泵抽出，排至大氣。試驗(yàn)時(shí)在真空泵入口的空氣管上接一根軟管至氦質(zhì)譜檢漏儀，在真空系統(tǒng)的漏點(diǎn)處噴氦氣，由于氦質(zhì)譜檢漏儀工作時(shí)能形成比水環(huán)式真空泵更高的真空，因此，漏入真空泵入口管上氦氣與空氣的混合元體，有一部分被吸入到氦質(zhì)譜檢漏儀，由于氦分子質(zhì)量與其他分子質(zhì)量不一樣，通過磁場(chǎng)產(chǎn)生的偏轉(zhuǎn)磁力不一樣，氦質(zhì)譜檢漏儀上設(shè)計(jì)有一狹縫，剛好使氦分子通過而其他分子無法通過，氦質(zhì)譜檢漏儀檢漏公司，這樣，通過狹縫后的氦分子打在收集板上，通過靶板計(jì)數(shù)，即可知道通過的分子數(shù)泄漏量的相對(duì)大小。

氦質(zhì)譜檢漏儀的結(jié)構(gòu)

氦質(zhì)譜檢漏儀離子源的作用是使氣體分子電離，形成一束具有一定能量的離子。它由燈絲(陰級(jí))、離化室及離子加速極組成。

燈絲在真空中通電加熱后發(fā)射電子，在離化室與燈絲之間的電場(chǎng)作用下，電子加速穿過離化室頂部狹縫進(jìn)入離化室，在離化室中與氣體分子發(fā)生多次碰撞后損失能量，Z后打到離化室上形成電子流，正壓氦質(zhì)譜檢漏儀檢漏公司，成為發(fā)射電流的一部分。電子在運(yùn)動(dòng)的過程中碰撞氣體分子而使氣體分子電離形成正離子，正離子在離化室與加速極之間的電壓U(即離子加速電原)作用下，相繼穿過離化室正面的矩形狹縫和加速極的矩形狹縫，由于加速電場(chǎng)對(duì)離子做的功轉(zhuǎn)變?yōu)殡x子的動(dòng)能，便形成具有一定能量的離子束。

正壓法氦質(zhì)譜檢漏的優(yōu)缺點(diǎn)

正壓法的優(yōu)點(diǎn)是不需要輔助的真空系統(tǒng)，可以準(zhǔn)確定位，實(shí)現(xiàn)任何工作壓力下的檢測(cè)。

正壓法的缺點(diǎn)是檢測(cè)靈敏度較低，檢測(cè)結(jié)果不確定度大，正壓氦質(zhì)譜檢漏儀檢漏公司，受測(cè)量環(huán)境條件影響大。

正壓法的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)主要有QJ3089-1999《氦質(zhì)譜正壓檢漏方法》、QJ2862-1996《壓力容器焊縫氦質(zhì)譜吸罩盒檢漏試驗(yàn)方法》，主要應(yīng)用于大容積高壓密閉容器產(chǎn)品的檢漏，如高壓氦氣瓶、艙門檢漏儀等。

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