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WLCSP此封裝不同于傳統(tǒng)的先切割晶圓,再組裝測試的做法,而是先在整片晶圓上進行封裝和測試,半導(dǎo)體封裝測試設(shè)備,然后再切割。半導(dǎo)體器件有許多封裝形式,按封裝的外形、尺寸、結(jié)構(gòu)分類可分為引腳插入型、表面貼裝型和封裝三類。從DIP、SOP、QFP、PGA、BGA到CSP再到SIP,技術(shù)指標(biāo)一代比一代先進。表面貼片封裝根據(jù)引腳所處的位置可分為:Single-ended(引腳在一面)、Dual(引腳在兩邊)、Quad(引腳在四邊)、Bottom(引腳在下面)、BGA(引腳排成矩陣結(jié)構(gòu))及其他。
封裝測試的原因:
隨著芯片的復(fù)雜度原來越高,芯片內(nèi)部的模塊越來越多,合肥封裝測試,制造工藝也是越來越先進,對應(yīng)的失效模式越來越多,而如何能完整有效地測試整個芯片,在設(shè)計過程中需要被考慮的比重越來越多。設(shè)計、制造、甚至測試本身,都會帶來一定的失效,保證設(shè)計處理的芯片達(dá)到設(shè)計目標(biāo),保證制造出來的芯片達(dá)到要求的良率,確保測試本身的質(zhì)量和有效。
封裝過程為:來自晶圓前道工藝的晶圓通過劃片工藝后,半導(dǎo)體芯片封裝測試,被切割為小的晶片,封裝測試廠家,然后將切割好的晶片用膠水貼裝到相應(yīng)的基板(引線框架)架的小島上,再利用超細(xì)的金屬(金、錫、銅、鋁)導(dǎo)線或者導(dǎo)電性樹脂將晶片的接合焊盤連接到基板的相應(yīng)引腳,并構(gòu)成所要求的電路。Single-ended中COF是將芯片直接粘貼在柔性線路板上(現(xiàn)有的用Flip-Chip技術(shù)),再經(jīng)過塑料包封而成,它的特點是輕而且很薄,所以當(dāng)前被廣泛用在液晶顯示器(LCD)上,以滿足LCD分辨率增加的需要。封裝引腳之間距離很小、管腳很細(xì),一般大規(guī)?;虺笠?guī)模集成電路采用這種封裝形式。其引腳數(shù)一般從幾十到幾百,而且其封裝外形尺寸較小、寄生參數(shù)減小、適合高頻應(yīng)用。該封裝主要適合用SMT表面安裝技術(shù)在PCB上安裝布線。
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