一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

   元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

   一次可同時(shí)分析:23層鍍層，光譜膜厚儀，24種元素   厚度檢出限:0.005um

     X射線熒光光譜測(cè)厚儀   X射線的產(chǎn)生  

X射線波長(zhǎng)略大于0.5納米的被稱作軟X射線。波長(zhǎng)短于0.1納米的叫做硬X射線。

產(chǎn)生X射線的簡(jiǎn)單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動(dòng)能(其中的1%)會(huì)以光子形式放出，形成X光光譜的連續(xù)部分，稱之為制動(dòng)輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內(nèi)層電子撞出。于是內(nèi)層形成空穴，外層電子躍遷回內(nèi)層填補(bǔ)空穴，同時(shí)放出波長(zhǎng)在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是化的，所以放出的光子的波長(zhǎng)也集中在某些部分，形成了X光譜中的特征線，此稱為特性輻射。

一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層，24種元素   厚度檢出限:0.005um

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域      

     集成電路是國民經(jīng)濟(jì)首要突破的行業(yè)，中國現(xiàn)代制造業(yè)的發(fā)展，集成電路是基礎(chǔ)。如果保證電路板生產(chǎn)的質(zhì)量，電鍍檢測(cè)重中之重！x射線熒光膜厚測(cè)厚儀為集成電路的發(fā)展，PCB線路板加工業(yè)的質(zhì)量保駕護(hù)航。價(jià)格一直是客戶在購買時(shí)關(guān)心的問題，好質(zhì)量和售后服務(wù)的產(chǎn)品在價(jià)格上面往往比較高，所以客戶在選擇產(chǎn)品時(shí)選擇的就需要一定的了解，首先是品牌，其次是客戶調(diào)查，售后服務(wù)等。x射線熒光膜厚測(cè)厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測(cè)試，鍍錫測(cè)試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測(cè)厚，PCB線路板的鍍銀厚度分析。 的詳細(xì)信息x射線熒光膜厚測(cè)厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測(cè)試，鍍錫測(cè)試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測(cè)厚，PCB線路板的鍍銀厚度分析。

      x射線熒光膜厚測(cè)厚儀已經(jīng)成為電力行業(yè)，PCB行業(yè)，首飾行業(yè)的鍍層分析的常規(guī)手段，比傳統(tǒng)的電解法測(cè)厚儀具有更快的測(cè)試速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率。

一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層，電鍍膜厚儀，24種元素   厚度檢出限:0.005um

     

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜測(cè)厚儀在電鍍行業(yè)的應(yīng)用

     

     由于每一種元素的原子能級(jí)結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測(cè)定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強(qiáng)弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量或厚度。

      PCB線路板主要有鍍金，鍍鎳，鍍銅，鍍銀，鍍錫等種類。其電鍍工藝流程如下：

浸酸→全板電鍍銅→圖形轉(zhuǎn)移→酸性除油→二級(jí)逆流漂洗→微蝕→二級(jí)浸酸→鍍錫→二級(jí)逆流漂洗→浸酸→圖形電鍍銅→二級(jí)逆流漂洗→鍍鎳→二級(jí)水洗→浸檸檬酸→鍍金→回收→2-3級(jí)純水洗→烘干。

      對(duì)于PCB生產(chǎn)企業(yè)來說，紹興測(cè)厚儀，厚度的有效控制能做到有效的節(jié)約成本，又能滿足客戶需求，做到耐氧化、耐磨等。而X射線熒光鍍層測(cè)厚法是PCB工業(yè)檢測(cè)電鍍厚度的有效手段。下面介紹一款x射線熒光膜厚測(cè)厚儀XTU-BL。利用XRF無損分析技術(shù)檢測(cè)鍍層厚度的儀器就叫X射線測(cè)厚儀，又膜厚測(cè)試儀，光譜分析儀，鍍層檢測(cè)儀，XRF測(cè)厚儀，PCB鍍層測(cè)厚儀，金屬鍍層測(cè)厚儀等。X射線能同時(shí)實(shí)現(xiàn)多鍍層厚度分析。在實(shí)際應(yīng)用中，多采用實(shí)際相近的鍍層標(biāo)注樣品進(jìn)行比較測(cè)量（即采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法進(jìn)行對(duì)比測(cè)試的方法）來減少各層之間干擾所引起的測(cè)試精度問題。

光譜分析儀-一六儀器(在線咨詢)-紹興測(cè)厚儀由江蘇一六儀器有限公司提供。江蘇一六儀器有限公司堅(jiān)持“以人為本”的企業(yè)理念，擁有一支高素質(zhì)的員工隊(duì)伍，力求提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)回饋社會(huì)，并歡迎廣大新老客戶光臨惠顧，真誠合作、共創(chuàng)美好未來。一六儀器——您可信賴的朋友，公司地址：江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)成功路168號(hào)，聯(lián)系人：鄧女士。