一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集，先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件，LED和照明，家用電器，通訊，汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆

層測厚時采用。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，鍍層分析儀，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素量分析。但是由于影響熒光X射線的強度的因素較多，除待測元素的濃度外，儀器校正因子，待測元素X射線熒光強度的測定誤差，元素間吸收增加效應(yīng)校正，樣品的物理形態(tài)（如試樣的均勻性、厚度，表面結(jié)構(gòu)等）等都對定了分析結(jié)果產(chǎn)生影響。由于受樣品的基體效應(yīng)等影響較大，因此，對于標(biāo)注樣品要求很嚴(yán)格，湖南測厚儀，只有標(biāo)準(zhǔn)樣品與實際樣品集體和表面狀態(tài)相似，才能保證定量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜測厚儀    一次性同時分析：23層鍍層，24種元素

                                                      厚度di檢出限：0.005um

性能優(yōu)勢

精密的三維移動平臺

的樣品觀測系統(tǒng)

先進(jìn)的圖像識別

輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測

四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動切換

雙重保護(hù)措施，實現(xiàn)無縫防撞

采用大面積高分辨率探測器，光譜分析儀，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動智能控制方式，一鍵式操作!

開機自動退出自檢、復(fù)位

開蓋自動退出樣品臺，涂層測厚儀，升起Z軸測試平臺，方便放樣

關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點

點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結(jié)果

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