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一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
江蘇一六儀器 X射線熒光測厚儀工作原理
當(dāng)原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發(fā)使原子內(nèi)層電子電離而出現(xiàn)空位,原子內(nèi)層電子重新配位,電鍍測厚儀,較外層的電子躍遷到內(nèi)層電子空位,并同時出次級X射線光子,此即X射線熒光。較外層電子躍遷到內(nèi)層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差,因此,X射線熒光的波長對不同元素是特征的,根據(jù)元素X射線熒光特征波長對元素做定性分析,根據(jù)元素釋放出來的熒光強度,來進(jìn)行定量分析如元素厚度或含量分析。
根據(jù)色散方式不同,X射線熒光分析儀相應(yīng)分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大,用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶2速度轉(zhuǎn)動分析晶體和探測器,可在不同的布拉格角位置上測得不同波長的X射線而作元素的定性分析。探測器的作用是將X射線光子能量轉(zhuǎn)化為電能,常用的有蓋格計數(shù)管、正比計數(shù)管、閃爍計數(shù)管、半導(dǎo)體探測器等。記錄單元由放大器、脈沖幅度分析器、顯示部分組成。通過定標(biāo)器的脈沖分析信號可以直接輸入計算機,進(jìn)行聯(lián)機處理而得到被測元素的含量。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
目前,膜厚測試儀,金屬鍍層常用的分析方法有濕化學(xué)電解分析、輝光放電---發(fā)射光譜分析(GD-OES)和X射線熒光光譜儀等。濕化學(xué)電解分析需選用適當(dāng)溶劑溶解選定的鍍層,逐層溶解并進(jìn)行測定,方法準(zhǔn)確但費時費力,尤其是相關(guān)特定溶劑的選擇也非常復(fù)雜,價格又貴,電鍍膜厚儀,屬于典型破壞性樣品檢測,測量手段手段繁瑣,速度慢,臺州測厚儀,電解液耗損大,目般很少應(yīng)用。GD-OES方法用惰性原子逐層轟擊及剝離試樣表層,再用發(fā)射光譜測定,這種方法可實現(xiàn)剖面或逐層分析,但測量重復(fù)性并不理想。
江蘇一六儀器 XTU系列 XTU-BL X熒光光譜儀
儀器規(guī)格:
外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (長x寬x高)
樣品倉尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (長x寬x高)
儀器重量 :55kg
供電電源 :交流220±5V
功率 :330W
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境相對濕度:<70%
EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長和強度實現(xiàn)的, 根據(jù)不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡使用,可以對樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。
常用的EDX探測器是硅滲鋰探測器。當(dāng)特征X射線光子進(jìn)入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離,產(chǎn)生若干電子-空穴對,其數(shù)量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對,經(jīng)過一系列轉(zhuǎn)換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器,并計數(shù)能譜中每個能帶的脈沖數(shù)。
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