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一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
測(cè)試面積是測(cè)厚儀器的一項(xiàng)很重要的參數(shù),主要由準(zhǔn)直器控制組成,但也受其它條件限制:
1、受高壓、光管限制,因?yàn)樾枰@兩裝置提供足夠熒光強(qiáng)度和聚焦。
2、受儀器結(jié)構(gòu)限制,相同的準(zhǔn)直器因安裝的位置及與探測(cè)器的角度都影響測(cè)量面積,同樣是直徑0.2mm準(zhǔn)直器Thick800A測(cè)量面積達(dá)到直徑0.4mm,電鍍測(cè)厚儀,EDX1800B測(cè)量面積達(dá)到直徑0.5mm,CMI900測(cè)量面積達(dá)到0.3mm,而XTU-A面積可以達(dá)到0.218.
江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀
一六儀器 X熒光光譜測(cè)厚儀
鍍層分析X射線熒光光譜特點(diǎn)
1.鍍層分析快速、無(wú)損,對(duì)樣品無(wú)需任何處理。一般測(cè)試一個(gè)點(diǎn)只需要數(shù)10S-1分鐘,分析精度高。
2.可測(cè)試超薄的鍍層。
3.可測(cè)試多鍍層,分析精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測(cè)量方法。
4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定,選擇合適的對(duì)比分析樣品,就可以準(zhǔn)確的分析出合金鍍層的厚度。
5.對(duì)于樣品可進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量,適合分析鍍層的厚度分布情況,并可以對(duì)樣品的復(fù)雜面進(jìn)行測(cè)量。
6.對(duì)分析的多鍍層每層之間的材料,要求有明顯的區(qū)別
7.不可以測(cè)試超厚樣品,普通金屬鍍層總厚度一般不超過(guò)40微米。
8.可以對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試
9.屬于對(duì)比分析儀器,測(cè)試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標(biāo)樣
一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
xiao測(cè)量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上鍍層厚度分析儀測(cè)量原理與儀器
一. 磁吸力測(cè)量原理鍍層厚度分析儀
磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測(cè)厚儀,只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后,將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這一記錄過(guò)程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源,測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn),價(jià)格也較低,很適合車(chē)間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。
二. 磁感應(yīng)測(cè)量原理鍍層厚度分析儀
采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
三. 電渦流測(cè)量原理鍍層厚度分析儀
高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測(cè)頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱(chēng)之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。
企業(yè): 江蘇一六儀器有限公司
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