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江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀
X熒光涂鍍層測厚儀測試原理
同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層,此時就有能量ΔE釋放出來,且ΔE=EK-EL,這個能量是以X射線形式釋放,產(chǎn)生的就是Kα 射線,同樣還可以產(chǎn)生Kβ射線 ,L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn),熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),其數(shù)學關(guān)系如下: λ=K(Z-s)-2 這就是莫斯萊定律,式中K和S是常數(shù),光譜分析儀,因此,只要測出熒光X射線的波長,南平測厚儀,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
工業(yè)X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現(xiàn)場測量等優(yōu)點,已在冶金、建材、地質(zhì)、環(huán)保、商檢、考古、醫(yī)學等領(lǐng)域得到迅速推廣和應(yīng)用。近幾年來X射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測量中應(yīng)用越來越廣泛。眾所周知,產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品質(zhì)量與性能相關(guān)的重要指標。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法,能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求,并且具有無損、在線、簡便快速、可實現(xiàn)自動控制等特點。
一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,鍍層分析儀,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等,在有關(guān)國家和國際標準中稱為覆層(coating)。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),鍍層測厚儀,是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必備手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。
企業(yè): 江蘇一六儀器有限公司
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