一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集，先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件，LED和照明，家用電器，通訊，汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理

對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating）。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要一環(huán)，是產品達到優(yōu)等質量標準的必備手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，膜厚測試儀，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列 

技術參數(shù)

X射線裝置：W靶微聚焦加強型射線管

準直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 準直器任意選擇或者任意切換

近測距光斑擴散度：9%

測量距離：具有距離補償功能，鍍層測厚儀，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，熒光測厚儀，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)

樣品觀察：1/2.5彩色CCD，變焦功能對焦方式高敏感鏡頭，手動對焦

放大倍數(shù)：光學38-46X，數(shù)字放大40-200倍

隨機標準片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 

其它附件：聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱

   江蘇一六儀器有限公司  專業(yè)鍍層測厚檢測   歡迎來電詳詢！ 

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較，被測元素的特征X射線熒光強度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關，而且與厚度直接相關。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法，測厚儀，具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速，方便，測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關企業(yè)作為過程控制和檢測使用。是目前應用為廣泛，具有速度快、無損化以及可實現(xiàn)多鍍層同時分析等特點。

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