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超聲波涂層測(cè)厚儀的二種校準(zhǔn)方法是,用標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)和波速校準(zhǔn)二種,在這其中標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)又分為一點(diǎn)校準(zhǔn),二點(diǎn)校準(zhǔn)二種。一點(diǎn)校準(zhǔn)是在二點(diǎn)方法為關(guān)的狀況下進(jìn)行的,當(dāng)二點(diǎn)為關(guān)狀況下按照CAL/ON鍵,CAL一開(kāi)始閃爍,期限內(nèi)使探頭與校準(zhǔn)規(guī)范塊耦合,待耦合指示燈亮,即讀值穩(wěn)定。這時(shí)候顯示值可能與校準(zhǔn)試塊的己知厚薄不匹配。這時(shí)候可讓探頭保持耦合,超聲波測(cè)厚儀器供應(yīng),也能用下探頭。用上下功能鍵調(diào)節(jié)顯示值,使之與校準(zhǔn)試塊的厚薄一致,接著在按CAL/ON鍵,開(kāi)展校準(zhǔn)。二點(diǎn)校準(zhǔn):二點(diǎn)校務(wù)必按MODE鍵,直到顯示雙點(diǎn)校準(zhǔn),按CAL/ON顯示其現(xiàn)如今狀況,用上下調(diào)節(jié)功能鍵啟動(dòng)2-PT,再按CAL/ON,這時(shí)候指示燈一開(kāi)始閃爍,出現(xiàn)“LO”(?。┬?zhǔn)的提示,超聲波測(cè)厚儀器,將探頭與校準(zhǔn)規(guī)范塊耦合,待耦合指示燈亮,即讀值穩(wěn)定??勺屘筋^保持耦合,也能用下探頭。
影響超聲波測(cè)厚儀精度的因素還有如下:
溫度的影響
材料的聲速會(huì)隨著材料溫度的變化而發(fā)生變化。如果儀器的校準(zhǔn)是在溫度相對(duì)較低的環(huán)境中進(jìn)行的,而儀器的使用卻在溫度相對(duì)較高的環(huán)境中,這種情況下就會(huì)使檢測(cè)結(jié)果偏離真實(shí)值。要避免溫度的這種影響,方法是校準(zhǔn)儀器時(shí)用高溫探頭來(lái)處理。
表面粗糙度的影響
被測(cè)件的表面粗糙程度對(duì)測(cè)厚儀有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),超聲波測(cè)厚儀器哪家好,以克服這種偶然誤差。
附著物質(zhì)的影響
測(cè)厚前必須清除附著物質(zhì),以保證儀器探頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾測(cè)厚工作。
超聲波測(cè)厚儀器為了得到一個(gè)令人滿意的超聲響應(yīng),被測(cè)材料的另一表面必須與被測(cè)面平行或同軸,否則將引起測(cè)量誤差或根本無(wú)讀數(shù)顯示。材料的厚度與超聲波傳播速度均受溫度的影響,若對(duì)測(cè)量精度要求較高時(shí),超聲波測(cè)厚儀器報(bào)價(jià),可采用試塊對(duì)比法,即用相同材料的試塊在相同溫度條件進(jìn)行測(cè)量,并求得溫度補(bǔ)償系數(shù),用此系數(shù)修正被測(cè)工件的實(shí)測(cè)值。 對(duì)于一些如纖維、多孔、粗粒子材料,它們會(huì)造成超聲波的大量散射和能量衰減,以致出現(xiàn)反常的讀數(shù)甚至無(wú)讀數(shù),在這種情況下,則說(shuō)明該材料不適于用此測(cè)厚儀測(cè)試。對(duì)不同材料在不同條件下進(jìn)行測(cè)量,校準(zhǔn)試塊的材料越接近于被測(cè)材料,測(cè)量就越。理想的參考試塊將是一組被測(cè)材料的不同厚度的試塊,試塊能提供儀器補(bǔ)償校正因素。為了滿足精度測(cè)量的要求,一套參考試塊將是很重要的。在大部分情況下,只要使用一個(gè)參考試塊就能得到令人滿意的測(cè)量精度,這個(gè)試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同的材質(zhì)和相近的厚度。取均勻被測(cè)材料用千分尺測(cè)量后就能作為一個(gè)試塊。
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