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一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結構,其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,這時原子被激發(fā)了,處于激發(fā)態(tài)。此時,其他的外層電子便會填補這一空位,即所謂的躍遷,同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。
X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理
由于每一種元素的原子能級結構都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,便可以確定相應元素的存在,而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列
技術參數
X射線裝置:W靶微聚焦加強型射線管
準直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 準直器任意選擇或者任意切換
近測距光斑擴散度:9%
測量距離:具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察:1/2.5彩色CCD,變焦功能對焦方式高敏感鏡頭,手動對焦
放大倍數:光學38-46X,熒光測厚儀,數字放大40-200倍
隨機標準片:十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件:聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱
一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
江蘇一六儀器 X熒光光譜測厚儀 優(yōu)點
X射線熒光能譜儀沒有復雜的分光系統(tǒng),結構簡單。X射線激發(fā)源可用X射線發(fā)生器,也可用性同位素。能量色散用脈沖幅度分析器。探測器和記錄等與X射線熒光光譜儀相同。
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優(yōu)缺點。前者分辨率高,對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2~3數量級,靈敏度高??梢詫δ芰糠秶軐挼腦射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
企業(yè): 江蘇一六儀器有限公司
手機: 18994336605
電話: 0512-57757039
地址: 江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)成功路168號