一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時分析:23層鍍層，膜厚儀，24種元素   厚度檢出限:0.005um

   江蘇一六儀器  X熒光測厚儀測試要求：

工作要求：

1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2 環(huán)境相對濕度：<70%

3 工作電源：交流220±5V

4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

5 Max功率 ：330W

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

7 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

8 儀器重量 ：55kg

9 分析軟件EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析

10 軟件操作人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤

11 X射線裝置：W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管

   江蘇一六儀器有限公司  **鍍層測厚檢測   歡迎來電詳詢！ 

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較，被測元素的特征X射線熒光強(qiáng)度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關(guān)，而且與厚度直接相關(guān)。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法，具有無需對樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速，方便，測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關(guān)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。是目前應(yīng)用為廣泛，具有速度快、無損化以及可實現(xiàn)多鍍層同時分析等特點。

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測厚儀可調(diào)整測量位置，非常敏捷快速?；蚴菧y量位置已完成登陸時，可連續(xù)自動測定，利用座標(biāo)補(bǔ)正、連結(jié)頻道，來應(yīng)付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標(biāo)準(zhǔn)片校正。

　　測定部顯示盡像的表示：X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準(zhǔn)儀照射測定物的位置，可由倍率率更機(jī)能來實現(xiàn)盡面上測出物放大。。。

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