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一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
X射線熒光光譜測厚儀 X射線的產(chǎn)生
X射線波長略大于0.5納米的被稱作軟X射線。波長短于0.1納米的叫做硬X射線。
產(chǎn)生X射線的簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中,電子突然減速,其損失的動能(其中的1%)會以光子形式放出,形成X光光譜的連續(xù)部分,稱之為制動輻射。通過加大加速電壓,電子攜帶的能量增大,則有可能將金屬原子的內(nèi)層電子撞出。于是內(nèi)層形成空穴,外層電子躍遷回內(nèi)層填補空穴,同時放出波長在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是化的,所以放出的光子的波長也集中在某些部分,形成了X光譜中的特征線,此稱為特性輻射。
一六儀器 **測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應(yīng)用于電子元器件,臨沂測厚儀,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
在我們的售前服務(wù)工作中,電鍍測厚儀,客戶通常都會拿一些在其它機構(gòu)或者儀器測量過的樣品來與我們儀器進行測試結(jié)果對比,電鍍膜厚儀,在確認雙方儀器都是正常的情況下,會存在或多或少的差異,測厚儀廠家,那么我們務(wù)必要把這個差異的來源分析給客戶,我們在分析之前首先要給客戶解說測試的基本原理,告知此儀器為對比分析測試儀器,然后再談?wù)`差來源,主要來源:
1、標樣:對比分析儀器是要求有越接近于需測試樣品的標樣,測試結(jié)果越接近實際厚度。確認雙方有沒有在標定和校正時使用標樣?使用的是多少厚度的標樣?
2、樣品材料的詳細信息:如Ni/Cu的樣品,如果一家是按化學Ni測試,一家是按純Ni測試;Au/Ni/Cu/PCB樣品,一款儀器受Br干擾,一款儀器排除了Br干擾。
3、測量位置、面積:確定在同一樣品上測試的是否同一位置,因為樣品在電鍍時因電位差不同,各部位厚度是有差異的;確認兩款儀器測量面積的大小有多少差異。
4、樣品形狀:測量的樣品是否是兩款儀器都可測量,或者放置位置是否合適,如突出面有無擋住設(shè)備接收。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。我們**的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、*工等制造領(lǐng)域。
先進的技術(shù),**的團隊,嚴格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。
企業(yè): 江蘇一六儀器有限公司
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